實現(xiàn)120層堆疊,下一代3D DRAM將問世
比利時 imec(比利時微電子研究中心)與根特大學(Ghent University)宣布,300 毫米硅晶圓上成功外延生長 120 層 Si / SiGe 疊層結(jié)構(gòu),為推動 3D DRAM 的重要突破。
論文發(fā)表于《Journal of Applied Physics》。傳統(tǒng) DRAM 制程縮小至 10 納米級以下,電容體積不斷縮小,導致電荷保存更困難、漏電問題加劇,業(yè)界普遍認為平面微縮已逼近極限。若要滿足 AI 與高效能運算(HPC)龐大的存儲需求,未來勢必要借由「垂直堆疊」提升密度,概念與邏輯芯片的環(huán)繞閘極(GAA)類似,3D 結(jié)構(gòu)設(shè)計突破既有限制。
雖然 HBM(高頻寬存儲)也常稱為 3D 存儲,但嚴格來說,屬于芯片堆疊式 DRAM :先制造多顆 2D DRAM 晶粒,再以 TSV(硅穿孔)互連組合,本質(zhì)上仍是 2D。真正的 3D DRAM 是像 3D NAND Flash,單一芯片內(nèi)直接把存儲單元沿 Z 軸方向垂直堆疊。
想象一下,用數(shù)百片非常薄、略有不同的材料薄片建造一座塔,每片薄片都會自行彎曲或變形。這正是比利時微電子研究中心 (IMEC) 和根特大學的研究人員在 300 毫米晶圓上交替生長 120 層硅 (Si) 和硅鍺 (SiGe) 材料時所取得的成果——這是邁向三維 DRAM 的關(guān)鍵一步。乍一看,這聽起來像是在疊紙,但實際上,這更像是用自然會分裂的材料來平衡一座紙牌屋。
過去,由于硅與硅鍺(SiGe)晶格不匹配,一旦層數(shù)過多就容易出現(xiàn)缺陷,難以突破數(shù)十層瓶頸。這就像試圖堆疊一副牌,其中每一張牌都比第一張稍大——如果不仔細對齊,堆疊就會彎曲并倒塌。用半導體術(shù)語來說,這些「倒塌」表現(xiàn)為失配位錯,這些微小的缺陷可能會損害存儲芯片的性能。這次 imec 團隊加入碳元素,就像層與層之間涂一層「隱形黏膠」,有效緩解應(yīng)力(stress),展現(xiàn)穩(wěn)定性。
為了解決這個問題,團隊精心調(diào)整了硅鍺層中的鍺含量,并嘗試添加碳,碳就像一種微妙的膠水,可以緩解應(yīng)力。他們還在沉積過程中保持了極其均勻的溫度,因為反應(yīng)堆中即使是微小的熱點或冷點也可能導致生長不均勻。
該工藝本身采用先進的外延沉積技術(shù),就像用氣體繪畫一樣。硅烷和鍺烷(含硅和鍺的氣體)在晶圓表面分解,留下精確的納米薄層??刂泼繉拥暮穸取⒊煞趾途鶆蛐灾陵P(guān)重要;即使是微小的偏差也會在整個堆疊中傳播,從而放大缺陷。
那么,為什么要付出這么多努力呢?在傳統(tǒng)的 DRAM 中,存儲單元是平面布局的,這限制了密度。而垂直堆疊(3D)則可以在相同的占用空間內(nèi)容納更多的存儲單元,從而在不增大芯片尺寸的情況下提高存儲容量。成功構(gòu)建 120 個雙層結(jié)構(gòu)表明垂直擴展是可以實現(xiàn)的,這將使我們更接近下一代高密度存儲設(shè)備。
想象一下,每一層雙層結(jié)構(gòu)就像摩天大樓的一層,如果其中一層錯位,整棟樓就會變得不穩(wěn)定。通過控制應(yīng)變并保持各層結(jié)構(gòu)均勻,研究人員有效地建造了一座由硅和硅鍺組成的納米級摩天大樓,每單位面積可容納數(shù)千個存儲單元。
其影響遠不止內(nèi)存芯片。精確多層結(jié)構(gòu)的生長技術(shù)可以推動 3D 晶體管、堆疊邏輯器件,甚至量子計算架構(gòu)的發(fā)展,在這些架構(gòu)中,原子級層特性的控制至關(guān)重要。三星已經(jīng)將 3D DRAM 列入其發(fā)展規(guī)劃,甚至為此設(shè)立了專門的研發(fā)機構(gòu)。
此外,該研究與正在進行的柵極環(huán)繞場效應(yīng)晶體管(GAAFET)和互補場效應(yīng)晶體管(CFET)技術(shù)開發(fā)工作相一致。這些先進的晶體管架構(gòu)得益于外延生長技術(shù)對材料特性的精確控制,從而能夠制造出更小、更強大的晶體管,這對于電子設(shè)備的持續(xù)小型化至關(guān)重要。
團隊指出,成果證明 3D DRAM 材料層級具可行性。應(yīng)力控制與制程最佳化逐步成熟,將來 3D DRAM 有望像 3D NAND 走向商用化,使 AI 與數(shù)據(jù)中心容量與能效都更高。
總而言之,這不僅僅是你所知的硅片堆疊;它基于原子張力的工程順序,創(chuàng)造出自然界本身難以產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)。對于內(nèi)存技術(shù)而言,正如我們每次談到新突破時所說的那樣,這是一個里程碑,它可能會重塑芯片的設(shè)計方式,使其比以往任何時候都更密集、更快、更可靠。
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