可用CTL來執(zhí)行分級DFT并做為設計環(huán)境和ATE環(huán)境之間一個信息豐富的測試接口。對于測試圖形再用所生成的CTL結構支持在事件之后依賴協(xié)議管理的測試方法。例如，由一個接口提供的測試圖形可變化為用另一個替代接口，用稱之為重新對準目標的測試器圖形要領來改善ATE利用。

　　一些主要從事EDA、ATE、IP核和SoC開發(fā)的公司已為半導體業(yè)行提供CTL基DFT方案。由Synopsys、Agilent和ARM公司提供的初始CTL基方案已發(fā)布。ST公司也從事檢驗早期CTL基產(chǎn)品方案和積極地促進行業(yè)論壇工作。初始產(chǎn)品和工具已適用于用戶，CTL被行業(yè)接受應該很快。

　　CTL基EDA工具

　　Synopsys公司推出CTL基設計生成和ATPG支持工具。它的DFT CompilerTM SOCBIST 工具能產(chǎn)生核生成流(為核供應商輸出CTL)和SoC集成流(對于下一級集成接受DFT/ATPG任務的核級CTL)見圖1。另外，通過CTL采用分級DFT消除了與很大設計有關的問題，所給出的標準DFT工具具有處理設計的能力，這在以前是不可能提供的。

　　基于CTL尚未被通過，所以Synopsys設計工具流建立在形成標準的專用設計。為了確保用戶平滑的DFT流，Synopsys公司與Agilent公司緊密合作開發(fā)的測試程序生成器和相關工具，特別是Agilent SmarTest PGCTL瀏覽器。