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西門子與聯(lián)華電子攜手運用mPower技術推進EM/IR分析

作者: 時間:2025-07-22 來源:EEPW 收藏

數(shù)字化工業(yè)軟件宣布,半導體晶圓代工廠 (United Microelectronics Corporation, UMC) 目前已部署? 軟件,用于電遷移 (EM) 和電壓降 (IR) 分析,助力芯片設計人員優(yōu)化性能并提升可靠性。

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  的可擴展能力可幫助聯(lián)電等客戶針對更大規(guī)模的版圖進行精確分析,其晶體管級布局前電遷移 (Pre-Layout EM) 與電壓降分析功能可以提前發(fā)現(xiàn)潛在問題,幫助設計人員優(yōu)化芯片性能并增強可靠性。

經(jīng)過全面評估,聯(lián)電成功利用  的自動化流程完成了 SRAM 全芯片電路的綜合分析,提供精確的電壓降分布評估,并可進行早期風險檢測。

設備技術開發(fā)和設計支持副總裁鄭子銘表示:“通過將西門子的 mPower 集成到聯(lián)電的設計驗證流程中,我們在開發(fā)周期的更早階段識別和解決潛在問題的能力得到了提升。這與現(xiàn)代設計需求非常契合,確保為聯(lián)電為客戶提供優(yōu)異的產(chǎn)品質(zhì)量?!?/p>

聯(lián)電部署西門子 mPower 所取得的關鍵優(yōu)勢包括:

●   通過前沿的可擴展性和快速驗證能力加快產(chǎn)品上市速度。

●   通過早期檢測和解決潛在問題增強產(chǎn)品可靠性。

●   與現(xiàn)有設計工作流程無縫集成,實現(xiàn)全面的功耗分析。

西門子數(shù)字化工業(yè)軟件數(shù)字設計創(chuàng)作平臺高級副總裁兼總經(jīng)理 Ankur Gupta 表示:“對西門子 mPower 的成功部署標志著半導體設計驗證能力的重大進步。半導體行業(yè)正在面對日益增長的復雜挑戰(zhàn),行業(yè)先驅正借助西門子的 EDA 工具加速設計流程,將高性能的可靠產(chǎn)品快速推向市場。”


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