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研討會訊息:Teradyne/筑波科技寬能帶半導(dǎo)體整合測試與應(yīng)用

作者: 時間:2022-11-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

電動車、快充帶動第三代半導(dǎo)體碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)國際市場快速發(fā)展趨勢、儲能設(shè)備及高效能控制機(jī)臺,需要更多強(qiáng)韌的運(yùn)算芯片與電源管理IC功率組件,專注為高精準(zhǔn)、高穩(wěn)定度,高速、低單位IC成本與強(qiáng)大工程經(jīng)驗(yàn)支持能力是攸關(guān) POWER IC 研發(fā)及OSAT 成功的關(guān)鍵能力。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/202211/440124.htm

 

與美商泰瑞達(dá)合作,攜手推廣Eagle Test System (ETS)設(shè)備系列。因應(yīng)測試芯片機(jī)臺需求逐年成長,提供高質(zhì)量檢驗(yàn)、快速精準(zhǔn),降低測試成本、提升產(chǎn)能的ETS設(shè)備,具有高功率(>3000V)、高電流(>100A)、耐高溫、精準(zhǔn)穩(wěn)定之特色。則結(jié)合材料分析MA與故障瑕疵分析FA、封裝FT測試與設(shè)備整合經(jīng)驗(yàn),為客戶開發(fā)整合測試解決方案(Total Solution),并設(shè)立EC半導(dǎo)體工程中心提供高質(zhì)量的訓(xùn)練與服務(wù)。

 

ETS將主要聚焦實(shí)務(wù)分享:

1. Teradyne Device Interface Solution Business Overview

2. GaN and IGBT Probe Interface Solution Overview

3. WBG Market Trend and Teradyne Eagle System Introduction Practice

4. ACE Universal for SiC/GaN Wafer MA Test Solutions

5. Brief the Specific Functions for Power IC ATE Machines by HT

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