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MOS管防護電路解析
- 功率MOS管自身擁有眾多優(yōu)點,但是MOS管具有較脆弱的承受短時過載能力,特別是在高頻的應用場合,所以在應用功率MOS管對必須為其設計合理的保護電路來提高器件的可靠性。功率MOS管保護電路主要有以下幾個方面:1)防止柵極 di/dt過高:由于采用驅(qū)動芯片,其輸出阻抗較低,直接驅(qū)動功率管會引起驅(qū)動的功率管快速的開通和關斷,有可能造成功率管漏源極間的電壓震蕩,或者有可能造成功率管遭受過高的di/dt而引起誤導通。為避免上述現(xiàn)象的發(fā)生,通常在MOS驅(qū)動器的輸出與MOS管的柵極之間串聯(lián)一個電阻(R509),電阻的大
- 關鍵字: MOS管 電路設計
MOS管GS電阻有什么作用?
- MOS管具有三個內(nèi)在的寄生電容:Cgs、Cgd、Cds。這一點在MOS管的規(guī)格書中可以體現(xiàn)(規(guī)格書常用Ciss、Coss、Crss這三個參數(shù)代替)。MOS管之所以存在米勒效應,以及GS之間要并電阻,其源頭都在于這三個寄生電容。MOS管內(nèi)部寄生電容示意IRF3205寄生電容參數(shù)1.MOS管的米勒效應MOS管驅(qū)動之理想與現(xiàn)實理想的MOS管驅(qū)動波形應是方波,當Cgs達到門檻電壓之后, MOS管就會進入飽和導通狀態(tài)。而實際上在MOS管的柵極驅(qū)動過程中,會存在一個米勒平臺。米勒平臺實際上就是MOS管處于“放大區(qū)”的
- 關鍵字: MOS管 電路設計 模擬電路
MOS管又毀了?看看是不是這些原因
- MOS管可能會遭受與其他功率器件相同的故障,例如過電壓(半導體的雪崩擊穿)、過電流(鍵合線或者襯底熔化)、過熱(半導體材料由于高溫而分解)。更具體的故障包括柵極和管芯其余部分之前的極薄氧化物擊穿,這可能發(fā)生在相對于漏極或者源極的任何過量柵極電壓中,可能是在低至10V-15V 時發(fā)生,電路設計必須將其限制在安全水平;還有可能是功率過載,超過絕對最大額定值和散熱不足,都會導致MOS管發(fā)生故障。接下來就來看看所有可能導致失效的原因。01. 過電壓MOS管對過壓的耐受性非常小,即使超出額定電壓僅幾納秒,也可能導致
- 關鍵字: MOS管
一個高溫引發(fā)的悲劇,你永遠想象不到用戶把你的產(chǎn)品用在哪里?
- 曾經(jīng)的我呢還一個單純的小攻城獅,當自己設計完的電路板通過了功能測試、性能測試、環(huán)境實驗后,我就可以開開心心的玩耍了,但是永遠也想想不到用戶會把你的產(chǎn)品用在什么地方(客戶你們考慮過產(chǎn)品的感受嗎)。具體是這樣的一個很簡單的串口RS485電路,具體電路如下圖所示,用了這個電路后就不要單獨信號去管理485芯片的收發(fā)分時了(是不是很方便,我也這么想的)。問題就是出現(xiàn)這這個電路上,我們做環(huán)境實驗的時候是在55度做的一點點問題都木有,該收收該發(fā)發(fā),但是一到了用戶那里工作一小會就掛了,啥也木的了,經(jīng)過本人的現(xiàn)場排查(踩點
- 關鍵字: 開關電路 MOS管
【干貨】使用 MOS管構建雙向邏輯電平轉(zhuǎn)換器
- 今天可以大家分享的是:使用 MOS 管構建一個簡單的雙向邏輯電平轉(zhuǎn)換器電路邏輯電壓電平的變化范圍很大,從1.8V-5V。標準邏輯電壓為5V、3.3V、1.8V等。但是,使用 5V邏輯電平的系統(tǒng)/控制器(如Arduino)如何與使用3.3V邏輯電平的另一個系統(tǒng)(如ESP8266)通信呢?這個時候就需要用到邏輯電平轉(zhuǎn)換器,這里還將介紹 MOS管構建一個簡單的雙向邏輯電平轉(zhuǎn)換器電路。一、高電平和低電平輸入電壓從微處理器/微控制器方面來看,邏輯電平的值不是固定的,對此有一定的耐受性,例如,5V邏輯電平微控制器可以
- 關鍵字: MOS管 邏輯電平轉(zhuǎn)換器 電路設計
MOS管在BMS中的應用方案
- BMS確保電池高效安全運行,MOS管檢測過充、過放、過流等。電池電壓高低與MOS管選型相關,選擇時需注意熱設計、RDS(ON)和雪崩能量。微碧專注MOS產(chǎn)品20余年,適用于高性能BMS場景。BMS(電池管理系統(tǒng))負責監(jiān)控、控制和保護電池,以確保電池的高效運行和安全性。MOS管在其中起到了檢測過充電,過放電,充放電過流等作用。在充電狀態(tài)時,當電池充電后過壓時,充電控制端會由高電平轉(zhuǎn)為低電平,從而使MOS管Q1關斷,充電回路被切斷,進入過電壓保護。當電池通過負載放電,電池電壓低于設定值時,放電控制端由高電平轉(zhuǎn)
- 關鍵字: MOS管 BMS
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