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測(cè)試 文章 最新資訊

NI發(fā)布最新版本軟件NI VeriStand 2011

  • 2011年9月—— 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments 簡(jiǎn)稱NI)發(fā)布最新版本基于配置的軟件環(huán)境NI VeriStand 2011,用于實(shí)時(shí)測(cè)試和仿真應(yīng)用,包括硬件在環(huán)(HIL)仿真和Test Cell中的測(cè)控應(yīng)用。 直觀、開放的軟件界面幫助工程師實(shí)現(xiàn)出眾的系統(tǒng)靈活性,同時(shí)也減少了測(cè)試開發(fā)時(shí)間。 全新版本進(jìn)一步增強(qiáng)了內(nèi)置的實(shí)時(shí)激勵(lì)配置工具,可快速創(chuàng)建復(fù)雜的實(shí)時(shí)執(zhí)行測(cè)試序列,包括循環(huán)和分支結(jié)構(gòu)、組合運(yùn)算功能以及多任務(wù)處理等等。
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玩具產(chǎn)品EMC測(cè)試及其存在的主要問題

  • 隨著社會(huì)科技的不斷發(fā)展,玩具已不僅僅是面向孩子們的產(chǎn)品,已經(jīng)深人到各個(gè)年齡階層。相應(yīng)地對(duì)玩具的生產(chǎn)設(shè)計(jì)也...
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基于FPGA的系統(tǒng)易測(cè)試性的研究

  • 基于FPGA的系統(tǒng)易測(cè)試性的研究,引 言
      現(xiàn)代科技對(duì)系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA易測(cè)試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設(shè)計(jì)
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泰克在線虛擬實(shí)驗(yàn)室進(jìn)一步提升客戶體驗(yàn)

  • 2011年9月26日---全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商—泰克公司日前宣布,擴(kuò)展其在線虛擬實(shí)驗(yàn)室,新增LED測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、變頻器測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、逆變器測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。新增實(shí)驗(yàn)室將與原高速串行實(shí)驗(yàn)室一起共同構(gòu)成全新的泰克在線虛擬體驗(yàn)平臺(tái)。該平臺(tái)為工程師提供了從方案指導(dǎo)、型號(hào)選擇、產(chǎn)品演示到產(chǎn)品報(bào)價(jià)、預(yù)約線下實(shí)驗(yàn)室參觀的一系列功能,方便使用和導(dǎo)航,可幫助其在最短時(shí)間內(nèi)獲得最全面的實(shí)用信息,并為進(jìn)一步體驗(yàn)提供便捷預(yù)約方式。
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跨越RFID測(cè)試挑戰(zhàn)“三重門”,加速物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展

  • 物聯(lián)網(wǎng)遙不可及還是近在咫尺?工信部電信研究院在2011年5月發(fā)布的物聯(lián)網(wǎng)白皮書中預(yù)計(jì),“十二五”期末中國(guó)物聯(lián)網(wǎng)相關(guān)產(chǎn)業(yè)規(guī)模將達(dá)到5,000多億元,形成萬(wàn)億元級(jí)規(guī)模的時(shí)間節(jié)點(diǎn)預(yù)計(jì)在“十三五”后
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音視頻SoC測(cè)試要求幾應(yīng)用

  • 隨著大批量消費(fèi)類行業(yè)中SoC與SIP日趨復(fù)雜化,低成本與高器件壽命周期這兩個(gè)基本要求的矛盾更加突出。消費(fèi)者要求在相同或更低成本基礎(chǔ)上提高性能,同時(shí)還常常提出新的改進(jìn)。因此必須以低成本而又極其快速地對(duì)元器件進(jìn)
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吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版KTE 5.3

  • 美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭,2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評(píng)的吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境(KTE)半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版。KTE V5.3是專為配合吉時(shí)利迄今為止最快、最經(jīng)濟(jì)有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。
  • 關(guān)鍵字: 吉時(shí)利  測(cè)試  KTE5.3  

吉時(shí)利發(fā)布最新2200系列可編程通用電源產(chǎn)品線

  • 美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭,2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今天發(fā)布了五款新的通用可編程直流電源,以補(bǔ)充吉時(shí)利用于組件、模塊、器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的現(xiàn)有專業(yè)電源產(chǎn)品線及源測(cè)量?jī)x器組。最新發(fā)布的型號(hào)2200系列電源產(chǎn)品線以經(jīng)濟(jì)有效的價(jià)格、靈活的操作、功能結(jié)合卓越的電壓和電流輸出準(zhǔn)確度,提升了各種器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的易用性。
  • 關(guān)鍵字: 吉時(shí)利  測(cè)試  2200系列  

基于ZigBee技術(shù)的紅外人體探測(cè)系統(tǒng)測(cè)試

  • 摘要:為減少城市戰(zhàn)傷亡率,提出了一種基于ZigBee和藍(lán)牙技術(shù)的紅外人體探測(cè)系統(tǒng)方案。以星型網(wǎng)絡(luò)為原型,對(duì)系統(tǒng)的探測(cè)距離及靈敏度、抗干擾能力、節(jié)點(diǎn)功耗、穿透能力進(jìn)行了測(cè)試,做出了定量分析,提出了增大發(fā)射功率
  • 關(guān)鍵字: 探測(cè)  系統(tǒng)  測(cè)試  人體  紅外  ZigBee  技術(shù)  基于  

吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測(cè)試軟件升級(jí)版KTE 5.3

  •   吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評(píng)的吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境(KTE)半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版。KTEV5.3是專為配合吉時(shí)利迄今為止最快、最經(jīng)濟(jì)有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。
  • 關(guān)鍵字: 吉時(shí)利  測(cè)試  KTEV5.3  

惠瑞捷V93000 SOC 測(cè)試平臺(tái)裝機(jī)數(shù)量達(dá)到2,500 臺(tái)

  • Advantest 集團(tuán)(東京證券交易所:6857;紐約證券交易所:ATE)旗下公司惠瑞捷 (Verigy)的 V93000 片上系統(tǒng) (SOC) 測(cè)試平臺(tái)安裝數(shù)量已達(dá) 2,500 臺(tái),具有重大里程碑意義。此次具有里程碑意義的裝機(jī)為日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司(簡(jiǎn)稱 ASE,臺(tái)灣證券交易所:2311,紐約證券交易所:ASX)多系統(tǒng)訂單的一部分。日月光為世界最大的 IC 封裝和測(cè)試服務(wù)的獨(dú)立供應(yīng)商。
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實(shí)例RIGOL開關(guān)電源測(cè)試

  • 近幾年,電力電子設(shè)備與人們的工作、生活的關(guān)系日益密切,程控交換機(jī)、通訊、電子設(shè)備、控制設(shè)備等都已廣泛地使...
  • 關(guān)鍵字: RIGOL開關(guān)電源  測(cè)試  

頻率計(jì)測(cè)試中的精度計(jì)算

  • 頻率計(jì)作為高精度的頻率和時(shí)間測(cè)試儀表,測(cè)試精度高于普通的頻譜儀和示波器,所以測(cè)試精度的計(jì)算就更加為人關(guān)注。影響測(cè)試精度,或者說產(chǎn)生誤差的因素很多,而其中最主要的因素是儀表內(nèi)部時(shí)基穩(wěn)定度、分辨率、觸發(fā)精
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邁卡公司推出新一代Trigger Grip

  • 邁卡公司,世界領(lǐng)先的精密清洗、涂敷及潤(rùn)滑產(chǎn)品供應(yīng)商,日前推出了最新一代、專為配合其溶劑使用而設(shè)計(jì)的、倍受業(yè)界矚目的Trigger Grip系統(tǒng)。
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開關(guān)變壓器的伏秒容量與測(cè)量

  • 摘要:伏秒容量表示:一個(gè)開關(guān)變壓器能夠承受多高的輸入電壓和多長(zhǎng)時(shí)間的沖擊。在開關(guān)變壓器伏秒容量一定的條...
  • 關(guān)鍵字: 開關(guān)變壓器  伏秒容量  測(cè)試  
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測(cè)試介紹

  中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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