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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試

Multitest InCarrier又增新客戶

  •   面向世界各地集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其從亞洲一家重要測(cè)試代工廠又收到一份訂單,訂購(gòu)產(chǎn)品是其獨(dú)一無二的InCarrier?測(cè)試設(shè)備。InCarrier?優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)單粒器件測(cè)試和其他高并行數(shù)測(cè)試方法。   該客戶選定了一種綜合解決方案,包括InCarrier上下料機(jī)、InStrip以及適于加速儀MEMS測(cè)試的InMEMS組件。   與標(biāo)準(zhǔn)單粒器件測(cè)試和既有高并行數(shù)測(cè)試相比,InCarr
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時(shí)延測(cè)試與數(shù)據(jù)處理

  • 時(shí)延測(cè)試與數(shù)據(jù)處理,了分析頻率相對(duì)時(shí)延的真實(shí)特性,利用數(shù)字式電離層斜向探測(cè)系統(tǒng)同時(shí)對(duì)三條短波路徑進(jìn)行了一天連續(xù)測(cè)試[8],三條路徑分別為:新鄉(xiāng)至青島580 km,測(cè)試時(shí)間間隔1h;新鄉(xiāng)至重慶940 km,測(cè)試時(shí)間間隔2 h;新鄉(xiāng)至廣州1 380
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開關(guān)電源測(cè)試步驟(圖文解說)

  • 一、開關(guān)電源工作原理  1、開關(guān)電源是一種高頻開關(guān)式的能量變換電子電路,常作為設(shè)備的電源供應(yīng)器,常見變換分類有:AC-DC、DC-DC、DC-AC 等?! ?、開關(guān)電源原理框圖     (1) 市電進(jìn)入電源后,首先經(jīng)過是最前
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基于虛擬儀器的織機(jī)緯紗張力測(cè)試新方法

  • 以前,緯紗張力的測(cè)試多采用動(dòng)態(tài)電阻應(yīng)變儀,利用光線示波器進(jìn)行記錄,工作復(fù)雜,且結(jié)果精度和準(zhǔn)確性難以令人滿意[2]。文獻(xiàn)[3]提出對(duì)紡紗張力測(cè)試采用應(yīng)變電橋、自制放大電路、數(shù)據(jù)采集卡、計(jì)算機(jī)、VB編程實(shí)現(xiàn),具有
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高壓斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀測(cè)試解決方案

  • 1 概述
      高壓斷路器機(jī)械特性測(cè)試是開關(guān)生產(chǎn)、安裝、調(diào)試過程中不可缺少的一項(xiàng)內(nèi)容,對(duì)于檢測(cè)、鑒定斷路器的機(jī)械特性有重要的意義。固有分(合)閘時(shí)間、速度和行程、操作電源質(zhì)量(操動(dòng)繞組的I—U曲線)是
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Multitest MT2168的可擴(kuò)展設(shè)計(jì)確保未來投資價(jià)值

  •   2011年5月----面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布,MT2168的可擴(kuò)展設(shè)計(jì)能幫助用戶根據(jù)實(shí)際要求調(diào)整基本單元配置——不僅在初始安裝階段,而且在后期階段亦是如此(例如當(dāng)MT2168從工程驗(yàn)證地轉(zhuǎn)到批量生產(chǎn)基地時(shí))。   從高性價(jià)比的基本配置升級(jí)到更高水平的設(shè)置可隨時(shí)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行。通常,MT2168可提供不同配置,且轉(zhuǎn)換順暢。鑒于此,系統(tǒng)可以根據(jù)任何工程現(xiàn)場(chǎng)的需求進(jìn)行配置。上述
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一種基于PLC的水位傳感器測(cè)試系統(tǒng)研究

  • 1引言目前,可編程序控制器(簡(jiǎn)稱PLC)由于具有功能強(qiáng)、可編程、智能化等特點(diǎn),已成為工業(yè)控制領(lǐng)域中最主...
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電子護(hù)照安全機(jī)制及測(cè)試

  • 電子護(hù)照作為二代身 份證后的另一個(gè)重量級(jí)身份識(shí)別產(chǎn)品,必然要經(jīng)歷不同階段的演化,尤其是安全機(jī)制,基于第二代BAC已是成熟技術(shù),新引進(jìn)的SAC作為第三代在實(shí)現(xiàn)上也已比較成熟,假以時(shí)日必能得到推廣,而歐洲標(biāo)準(zhǔn)EAC作為第四代和一種更為復(fù)雜的安全機(jī)制,必將引起重視并影響電子護(hù)照的發(fā)展和升級(jí)換代。
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基于邊界掃描的電路板快速測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  •  摘要:本文設(shè)計(jì)了一套基于邊界掃描的電路板快速測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)利用計(jì)算機(jī)并行端口,通過適配器發(fā)送、接收測(cè)試向量,然后對(duì)采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,顯示測(cè)試結(jié)果。本文主要介紹了該系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)、軟件思想和診斷策略。經(jīng)
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視頻監(jiān)控?cái)z像機(jī)動(dòng)態(tài)范圍的幾種測(cè)試方法

  •  摘要:在應(yīng)用安防監(jiān)控?cái)z像機(jī)時(shí),經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)明暗反差較大或逆光的場(chǎng)景,使得圖像中明亮的區(qū)域曝光過度、較暗的區(qū)域欠曝光,而不能看清圖像最亮與最暗部分。因此,各攝像機(jī)廠家競(jìng)相開發(fā)了寬動(dòng)態(tài)攝像機(jī)。但如何檢測(cè)其
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電源備自投裝置測(cè)試儀必要性

  • 摘要:備用電源自投裝置可以提高供電的可靠性和連續(xù)性,但生產(chǎn)實(shí)際中應(yīng)用的許多備自投裝置由于運(yùn)行...
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咱的納米器件有幾安(A)、伏(V)?

  • 隨著納米技術(shù)日新月異的發(fā)展,研究已深入到原子挨原子的分子級(jí),構(gòu)造具有全新特性的新結(jié)構(gòu)。特別地,納米電子領(lǐng)域...
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固態(tài)USB開關(guān)及其它過流保護(hù)器件的浪涌測(cè)試

  • 摘要:固態(tài)過流保護(hù)IC,比如USB和卡槽的電源開關(guān),提供了一種簡(jiǎn)單、可靠的引腳保護(hù)方法,在生產(chǎn)測(cè)試或用戶使用不當(dāng)發(fā)生過載或短路時(shí)提供有效的系統(tǒng)保護(hù)。這些器件的保護(hù)能力并非沒有限制,本文主要討論了這些限制因素
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LED光電特性的測(cè)試內(nèi)容與方法介紹

  • 半導(dǎo)體發(fā)光二極管(LED)是新型的發(fā)光體,電光效率高、體積小、壽命長(zhǎng)、電壓低、節(jié)能和環(huán)保,是下一代理想的照明器件。LED光電測(cè)試是檢驗(yàn)LED光電性能的重要而且唯一的手段,相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果是評(píng)價(jià)和反映當(dāng)前我國(guó)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的依據(jù)。制定LED光電測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)是統(tǒng)一衡量LED產(chǎn)品光電性能的重要途徑,是使測(cè)試結(jié)果真實(shí)反映我國(guó)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的前提。本文結(jié)合最新的LED測(cè)試方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),介紹了LED的光電性能測(cè)試的幾個(gè)主要方面。

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有線電視網(wǎng)絡(luò)的光纜接續(xù)與測(cè)試

  • “光進(jìn)銅退”是有線電視網(wǎng)絡(luò)寬帶化、雙向化的發(fā)展趨勢(shì), 有線電視網(wǎng)絡(luò)改造應(yīng)將光纖進(jìn)一步向用戶端推進(jìn), 實(shí)現(xiàn)高可靠、高帶寬、高承載力、可管理、可運(yùn)營(yíng)的目標(biāo)。在目前的雙向網(wǎng)絡(luò)改造中, 光纖到小區(qū)、光
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測(cè)試介紹

  中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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