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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
RFID產(chǎn)品認(rèn)證與測(cè)試
- 無(wú)線射頻辨識(shí)(RadioFrequencyIdentification,RFID)產(chǎn)品在目前臺(tái)灣地區(qū)常用或熱門的頻率為小于135kHz、13...
- 關(guān)鍵字: RFID 產(chǎn)品認(rèn)證 測(cè)試
摩爾定律用于測(cè)試領(lǐng)域

- 1965年,Intel的創(chuàng)始人之一戈登?摩爾(Gordon Moore)指出,自從1958年集成電路問世以來(lái),集成電路上的元件個(gè)數(shù)每年翻一番。 五年后,這個(gè)發(fā)現(xiàn)被叫做摩爾定律,它以預(yù)測(cè)元件數(shù)每18個(gè)月翻一番而聞名。在長(zhǎng)達(dá)半個(gè)世紀(jì)的時(shí)間里這個(gè)定律在每個(gè)工業(yè)領(lǐng)域給電子器件帶來(lái)了巨大的性能提升和成本降低。然而,基于傳統(tǒng)儀器的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展并沒有跟上摩爾定律,因此這些系統(tǒng)難以滿足成本和性能要求。 相比之下,摩爾定律適用于軟件定義的模塊化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其尺寸、價(jià)格和功耗減少等方面的改
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電子負(fù)載在檢測(cè)設(shè)備測(cè)試中的應(yīng)用
- 隨著電子市場(chǎng)的發(fā)展,其前景是毋庸置疑的,而與之相輔相生的電子測(cè)量?jī)x表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動(dòng)、電源模塊測(cè)試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負(fù)載而言,其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少
- 關(guān)鍵字: 應(yīng)用 測(cè)試 檢測(cè)設(shè)備 負(fù)載 電子
汽車電子整體測(cè)試方案
- 我們正在經(jīng)歷數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和無(wú)線通信技術(shù)的快速發(fā)展,這給汽車電子工業(yè)帶來(lái)前所未有的變革,羅德與施瓦茨公...
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 測(cè)試測(cè)量
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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