- 在65nm制造工藝條件下，依靠電池供電的器件正在大量出現(xiàn)。這種先進的工藝技術(shù)使得新器件較前代工藝的同類器件具有很多改進。采用65nm工藝之后，設(shè)計人員可以在一塊單獨的裸片上集成遠(yuǎn)多于過去的晶體管，還可以在器件
- 關(guān)鍵字：
低功耗 測試 器件 計時
- 用于測試微型高集成元器件的平臺方案,能夠?qū)μ幵谏a(chǎn)階段的醫(yī)療設(shè)備進行測試的測試平臺，有助于公司管理電子元器件的成本、接入和覆蓋范圍。不管各家公司有沒有在產(chǎn)品開發(fā)階段對產(chǎn)品進行診斷，也不管它們在生產(chǎn)過程中有沒有確保產(chǎn)品質(zhì)量，但它們都免不了
- 關(guān)鍵字：
測試 集成 方案 元器件
- 下一代LTE 移動通訊產(chǎn)品有望成為新的全球標(biāo)準(zhǔn)。但是，因為在初始階段LTE 的服務(wù)范圍有限，所以LTE 智能手機還必須支持其他現(xiàn)有的2G 和3G 通訊技術(shù)，例如W-CDMA、GSM、CDMA2000 等。因此，在LTE 和2G/3G 移動系統(tǒng)之間
- 關(guān)鍵字：
移動 連接 測試 設(shè)計 Cell 手機 多模 LTE 智能 成本
- 設(shè)計復(fù)用使芯片設(shè)計的效率大為提高，為了跟上設(shè)計的步伐，測試也必須采用類似的復(fù)用技術(shù)。本文以飛利浦半導(dǎo)體的PNX8525 Nexperia數(shù)字視頻平臺(DVP)為例，介紹系統(tǒng)芯片的測試復(fù)用和調(diào)試策略。飛利浦半導(dǎo)體將設(shè)計復(fù)用策
- 關(guān)鍵字：
數(shù)字視頻 可復(fù)用 測試 策略
- HDD中需精心設(shè)計的鏈路是位于前置放大器和讀/寫磁頭組件之間的互連。該互連是確保HDD以多倍Gb/s的速率讀寫大量數(shù)據(jù)關(guān)鍵組件，但是，諸如交調(diào)失真、過沖和下沖等影響常會降低互連的性能，本文簡要介紹如何利用時域反射
- 關(guān)鍵字：
測量 磁盤 測試 驅(qū)動器
- 互連中的信號完整性損耗對于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題，因此經(jīng)常在設(shè)計和測試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。本文介紹如何利用片上機制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號完整性測試，從而利
- 關(guān)鍵字：
邊界掃描 測試 系統(tǒng)級芯片 互連
- 隨著汽車工業(yè)的發(fā)展和進步，人們對汽車的動力性、經(jīng)濟性、安全性及排放等方面提出了更高的要求，傳統(tǒng)的機械式控制系統(tǒng)已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足這些需要。電子化控制系統(tǒng)以其高精度、高速度、控制靈活、穩(wěn)定可靠等特點逐漸取
- 關(guān)鍵字：
燃料電池 汽車 車控制器 測試
- 以測試驗證服務(wù)起家、時至今日并已成長至業(yè)界龍頭地位的百佳泰(Allion Labs, Inc)，即將邁向嶄新的里程碑。為提供客戶更高質(zhì)量與更具前瞻性的技術(shù)服務(wù)(Engineering Service)，百佳泰自跨入2012年起便積極轉(zhuǎn)型，深化技術(shù)層次，其轉(zhuǎn)型策略主要包括以下重點項目：
- 關(guān)鍵字：
泰克 測試
- 安立公司宣布MD8430A LTE基站仿真器和Signalion的SORBAS 移動終端模擬器已成功完成了 LTE Advanced載波聚合的互操作性測試 。在2012美國無線通信展CTIA上，安立公司展示了這個測試，表明安立公司擁有世界第一個實現(xiàn)“全?！陛d波聚合的能力。
- 關(guān)鍵字：
Anritsu 安立 測試 載波聚合
- 通過整合安立公司的快速測試設(shè)計(RTD)的圖形腳本軟件和帶有RADVISION的ProLab IMS/VoLTE測試套件的MD8430A LTE網(wǎng)絡(luò)模擬器，安立公司(Anritsu)和Radvision在CTLA展上全面的展示了VoLTE設(shè)備測試能力。該套全新的VoLTE設(shè)備測試方案在安立公司展臺上正式亮相。
- 關(guān)鍵字：
Anritsu 安立 測試 MD8430A
- 隨著SoC設(shè)計向存儲器比例大于邏輯部分比例的方向發(fā)展，高質(zhì)量的存儲器測試策略顯得尤為重要。存儲器內(nèi)置自測試(BIST)技術(shù)以合理的面積開銷來對單個嵌入式存儲器進行徹底的測試，可提高DPM、產(chǎn)品質(zhì)量及良品率，因而正
- 關(guān)鍵字：
測試 標(biāo)準(zhǔn) 嵌入式存儲器
- 在最新的一項市場調(diào)查中，研究人員預(yù)計：到2015年，每年將有超過10億臺IEEE 802.11ac 無線通信設(shè)備投入使用。這是一個相當(dāng)驚人的數(shù)字，特別是考慮到802.11ac尚未成為官方標(biāo)準(zhǔn)的前提下。所以你可能會問：“什么是802.11ac協(xié)議，它跟當(dāng)前的Wi-Fi有何區(qū)別?”
- 關(guān)鍵字：
NI 測試 802.11ac
- 安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出四款 X 系列信號發(fā)生器，可提供無與倫比的相位噪聲、輸出功率、ACPR、EVM 以及帶寬。借助這些功能，新型 Agilent MXG 和 EXG 產(chǎn)品(提供模擬和矢量型號)支持元器件和接收機的開發(fā)，可以消除干擾、加快數(shù)據(jù)吞吐量并提高雷達、軍事通信和消費類無線技術(shù)等應(yīng)用中的信號質(zhì)量
- 關(guān)鍵字：
安捷倫 測試 信號發(fā)生器 MXG
- 近日，于美國拉斯維加斯召開的世界最大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品商展Interop Las Vegas 2012，10項Best of Interop獎項已各有歸屬，NEC成為最大贏家，摘得管理監(jiān)控和測試類以及Best of Interop全場特別獎兩項桂冠。
- 關(guān)鍵字：
NEC 測試 UNIVERGE
- 大批量半導(dǎo)體芯片制造商必須解決以下這道難題，即如何經(jīng)濟高效地測試嵌入在大型數(shù)字系統(tǒng)級芯片設(shè)計中的多個多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。雖然結(jié)合了閉環(huán)操作的片上內(nèi)置自測試(BI
- 關(guān)鍵字：
測試 向量 方法
測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學(xué)科：
航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應(yīng)用學(xué)科：
通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科)
[
查看詳細(xì) ]
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473