測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

高速AD測(cè)試中的難點(diǎn)

高精度ADC的采樣率不高，測(cè)試關(guān)鍵是要有高精度的信號(hào)源。而高速ADC測(cè)試是一項(xiàng)更具挑戰(zhàn)性的工作，其中采樣時(shí)鐘的Jitter和高速數(shù)字接口是兩個(gè)必須面對(duì)的難題。
采樣時(shí)鐘的Jitter（抖動(dòng)）問題
隨著輸入信號(hào)和采樣頻率
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TD-SCDMA 3G網(wǎng)絡(luò)測(cè)試保障解決方案

TD-SCDMA系統(tǒng)是一種新型的第三代移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，它在提供了高質(zhì)量的語音業(yè)務(wù)的同時(shí)，提供高達(dá)2Mbps速率的分組數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)及其它多媒體業(yè)務(wù)。目前，TD-SCDMA正在全球部署，在TD-SCDMA系統(tǒng)的產(chǎn)業(yè)化過程中，包含有TD-SC
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淺析GSM上層協(xié)議及其在測(cè)試中的應(yīng)用

摘要介紹了GSM上層協(xié)議中各個(gè)層的主要功能和GSM射頻指標(biāo)的測(cè)試方法，包括發(fā)射機(jī)相位誤差和頻率誤差測(cè)試，發(fā)射機(jī)載波峰值功率與突發(fā)脈沖定時(shí)測(cè)試，接收機(jī)參考靈敏度測(cè)試。關(guān)鍵詞GSM上層協(xié)議發(fā)射機(jī)測(cè)試　接收機(jī)測(cè)試1、
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電磁兼容EMC設(shè)計(jì)及測(cè)試技巧

當(dāng)前，日益惡化的電磁環(huán)境，使我們逐漸關(guān)注設(shè)備的工作環(huán)境，日益關(guān)注電磁環(huán)境對(duì)電子設(shè)備的影響，從設(shè)計(jì)開始，融入電磁兼容設(shè)計(jì)，使電子設(shè)備更可靠的工作。電磁兼容設(shè)計(jì)主要包含浪涌（沖擊）抗擾度、振鈴波浪涌抗擾度
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基于單片機(jī)的高速信號(hào)測(cè)試接口板的實(shí)現(xiàn)

在數(shù)字電路設(shè)計(jì)和調(diào)試中，對(duì)設(shè)計(jì)單元電路的性能進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。很多情況下，需要通過計(jì)算機(jī)的比較和分析，來測(cè)試設(shè)計(jì)的電路的性能是否達(dá)到要求。這就需要設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試接口板，將計(jì)算機(jī)產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)
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TD-SCDMA射頻測(cè)試總結(jié)（三）

　本期將簡(jiǎn)要介紹有關(guān)頻譜方面的測(cè)試——占用帶寬。　　定義:占用帶寬是指以指定信道的中心頻率為中心，包含總發(fā)射功率99%能量時(shí)所對(duì)應(yīng)的頻帶寬度?！　y(cè)試目的:驗(yàn)證UE的占用帶寬是否符合指標(biāo)要求，避免超
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TD-SCDMA射頻測(cè)試總結(jié)（二）

本期總結(jié)將介紹TD終端產(chǎn)品發(fā)射機(jī)特性測(cè)試——上行功率控制。根據(jù)3GPP TS34.122標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，UE上行功率控制分為上行開環(huán)功率控制和上行閉環(huán)功率控制?，F(xiàn)具體談?wù)勏嚓P(guān)內(nèi)容?！　∫弧?功率控制的主要目的：
　
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TD-SCDMA射頻測(cè)試總結(jié)（一）

TD－SCDMA終端一致性測(cè)試包括射頻指標(biāo)測(cè)試（參考標(biāo)準(zhǔn)：3GPPTS34.122），協(xié)議信令測(cè)試（參考標(biāo)準(zhǔn)：3GPPTS34.123）和其他測(cè)試（參考標(biāo)準(zhǔn)：3GPPTS31.120）三類測(cè)試。

　　其中射頻指標(biāo)測(cè)試分為“發(fā)射機(jī)特性測(cè)試
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EMC測(cè)試與連接器、電纜方法

EMC測(cè)試從連接器電纜開始，EMC測(cè)試是衡量電子產(chǎn)品EMC性能優(yōu)劣的首要依據(jù)，各種標(biāo)準(zhǔn)不但規(guī)定了各類電子產(chǎn)品的測(cè)試等級(jí)，而且還規(guī)定了測(cè)試方法和手段。因此，EMC設(shè)計(jì)及FMC問題的分析必須建立在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的EMC測(cè)試基
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集成軟硬件的數(shù)據(jù)采集平臺(tái)――Viper噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試

Author(s):
Marios Christodoulou - SCITEK Consultants Ltd (英國)
Jon Bates - SCITEK Consultants Ltd (英國)Industry:
Aerospace/Avionics, ATE/InstrumentationProducts:
Data Acquisition, Real-Time, Sof
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高效的測(cè)試確保可跟蹤性和驗(yàn)證要求（下）

基于需求的測(cè)試及其固有的需求可跟蹤性和驗(yàn)證過程被普遍認(rèn)為推廣企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的最佳實(shí)踐，如能力成熟度模型集成(CMMI)。CMMI是一個(gè)能夠?yàn)榻M織提供有效過程關(guān)鍵元素的過程改進(jìn)方法。它能夠用于引導(dǎo)一個(gè)項(xiàng)目、部門或整個(gè)組
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高效的測(cè)試確保可跟蹤性和驗(yàn)證要求（上）

集成汽車電子硬件和軟件測(cè)試的需求，可以是開發(fā)更為流暢，成本更為低廉。對(duì)要求可跟蹤性和驗(yàn)證的需要像一個(gè)契約要求給汽車電子供應(yīng)商施加著影響。隨著頻率的提高，廠商逐漸意識(shí)到以要求為基礎(chǔ)的測(cè)試通常是軟件開發(fā)工
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賽普拉斯EZ-USB FX3控制器支持微軟USB 3.0測(cè)試平臺(tái)

賽普拉斯半導(dǎo)體公司日前宣布微軟超高速USB測(cè)試工具 (SuperMUTT) 已經(jīng)選用了 EZ-USB FX3 USB 3.0 控制器。SuperMUTT 幾乎能夠與任何支持USB 3.0 的主機(jī)驅(qū)動(dòng)器配合使用，以檢測(cè)與微軟即將發(fā)布的 Windows 8 的 USB兼容性。
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智能變電站的測(cè)試與評(píng)估

智能變電站(含電廠升壓站及AGC)是智能電網(wǎng)的重要基礎(chǔ)和支撐，智能變電站設(shè)備具有信息數(shù)字化、功能集成化、結(jié)構(gòu)緊湊化、狀態(tài)可視化等主要技術(shù)特征，智能變電站系統(tǒng)應(yīng)建立站內(nèi)全景數(shù)據(jù)的統(tǒng)一信息平臺(tái)，供各子系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化
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匝數(shù)對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)試的影響分析

從軟磁材料的u~H曲線出發(fā)，研究在磁導(dǎo)率u的測(cè)量過程中，測(cè)試線圈匝數(shù)N對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。闡明N取一定數(shù)值時(shí)測(cè)出磁導(dǎo)率u值為最高的原因。關(guān)于測(cè)試樣環(huán)上測(cè)試磁場(chǎng)H徑向不均勻的影響，用積分法解決。指出環(huán)磁導(dǎo)率與材料
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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]