測試文章進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)

基于復(fù)用的SOC測試技術(shù)

基于復(fù)用的SOC測試技術(shù),1 引言90年代國際上出現(xiàn)的SOC概念，以系統(tǒng)為中心、基于IP模塊多層次、高度復(fù)用的設(shè)計思想受到普遍重視和廣泛應(yīng)用。SOC的高集成度和復(fù)雜度使得SOC測試面臨挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)的基于整個電路的測試方法不再適用。對于IP模塊和S
關(guān)鍵字：技術(shù) 測試 SOC 復(fù)用基于

ic是什么意思

IC，即集成電路是采用半導(dǎo)體制作工藝，在一塊較小的單晶硅片上制作上許多晶體管及電阻器、電容器等元器件，并按照 ...
關(guān)鍵字： IC 測試

以軟件為核心的測試系統(tǒng)設(shè)計

如今，伴隨著新技術(shù)的不斷涌現(xiàn)和各行業(yè)新需求的不斷增加，更多差異化產(chǎn)品投放市場的步伐也在不斷加快，這些產(chǎn)品不但集成了更多功能，而且還必須縮減開發(fā)周期，以便在與同類產(chǎn)品的競爭中獲得優(yōu)勢。與此同時，各企業(yè)也
關(guān)鍵字：軟件核心測試系統(tǒng)設(shè)計

選擇測試和測量系統(tǒng)時注意事項

在可用的測試和測量硬件和軟件范圍內(nèi)進(jìn)行選擇，對初次用戶和有經(jīng)驗的用戶來說，都一樣難辦，這是可以理解的。技術(shù)的進(jìn)步使測量和測試方法的發(fā)展呈指數(shù)方式加快，給用戶提供難以想象的強(qiáng)大系統(tǒng)功能。測試和測量設(shè)備跨
關(guān)鍵字：測試測量系統(tǒng) 注意事項

針對納米器件的脈沖I-V測試小技巧

在對納米器件進(jìn)行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，低電平測量技術(shù)不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電
關(guān)鍵字： I-V 納米器件脈沖測試

為發(fā)射器或組件測試選擇合適的分析儀

目前，市場上有許多可供選擇的分析儀，有些具備非常特殊的專業(yè)用途，有些則提供了較多的通用射頻測量能力；有些被稱為頻譜分析儀，有些則被稱為信號分析儀。這些分析儀都是用來測量和顯示信號頻率與幅度之間的關(guān)系的
關(guān)鍵字：發(fā)射器測試分析儀

測試測量關(guān)鍵基礎(chǔ)之示波器（一）

一、示波器不可不知的問題　　Q1: 在高速串行測試時，對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個指標(biāo)是最關(guān)鍵的 ...
關(guān)鍵字：測試測量示波器

測試測量設(shè)計實例（一）

一、簡易多波形信號發(fā)生器電路設(shè)計　　信號發(fā)生器在電子實驗中作為信號源，通常用得多的是正弦波、三角波、 ...
關(guān)鍵字：測試測量設(shè)計

IxLoad在WAP網(wǎng)關(guān)系統(tǒng)測試中的應(yīng)用

1 引言移動互聯(lián)網(wǎng)用戶在過去的幾年中高速增長，據(jù)統(tǒng)計目前全球范圍內(nèi)移動寬帶用戶數(shù)已經(jīng)超過了有線寬帶用戶數(shù)（540M，480M），權(quán)威機(jī)構(gòu)預(yù)測這個數(shù)字在未來的5年內(nèi)將會達(dá)到1.7B。同時，移動互聯(lián)網(wǎng)的業(yè)務(wù)流量也呈現(xiàn)了爆
關(guān)鍵字： IxLoad WAP 網(wǎng)關(guān)系統(tǒng) 測試

DDR3測試的挑戰(zhàn)及解決方法

前言作為DDR2的繼任者，根據(jù)JEDEC標(biāo)準(zhǔn), 目前DDR3的數(shù)據(jù)速率跨度從800Mbps開始直至1.6Gbps。在帶給用戶更快性能體驗的同時, DDR3卻能保持較低的功耗，相比DDR2減少約20%。雖然2008年整個DRAM市場低迷，DDR3的出貨量遠(yuǎn)
關(guān)鍵字： DDR3 測試方法

解析在布線系統(tǒng)測試中遇到的三大疑問

　現(xiàn)在由于需要支持10G以太網(wǎng)的測試，各個標(biāo)準(zhǔn)正在對儀器需要的精度進(jìn)行討論，基本只有達(dá)到IV精度的儀器才能支持10G以太網(wǎng)的測試。　　但是，現(xiàn)在不論是TIA,ISO還是IEEE,都還沒有對IV精度應(yīng)該達(dá)到什么樣的標(biāo)準(zhǔn)最后定
關(guān)鍵字：布線系統(tǒng) 測試

SoC的發(fā)展將使測試與測量設(shè)備嵌入芯片

復(fù)雜 IC 不僅吸引了更多系統(tǒng)，而且還吞食著設(shè)計者用于建立、評估與校準(zhǔn)芯片的測試設(shè)備。要點芯片設(shè)計者正開始在自己的復(fù)雜 IC上設(shè)計測試與測量儀器。在IC中設(shè)計測試儀器的潮流開始于CPU核心與總線的數(shù)字調(diào)試硬件。現(xiàn)
關(guān)鍵字： SoC 發(fā)展測試測量設(shè)備

十款主流車型碰撞測試兒童乘員保護(hù)評級

又到六一，大家的目光自然又投向了那些祖國的花朵身上。隨著消費者對于汽車安全的日益重視，對兒童的保護(hù)已成為衡量一輛車安全與否的重要因素之一。歐洲的EURONCAP試驗、美國的NHTSA(美國公路交通安全局)和IIHS(美國
關(guān)鍵字：測試保護(hù) 評級

改進(jìn)電路設(shè)計規(guī)程提高可測試性

隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個例子。電子元件的布線設(shè)計方式，對以后制作流程中的測試能否很
關(guān)鍵字：電路設(shè)計測試

綜合儀器方法解決棘手的系統(tǒng)級測試

當(dāng)今的電子器件和產(chǎn)品在以比以往更快的速度發(fā)展，在許多商業(yè)應(yīng)用中，從設(shè)計到生產(chǎn)的生命周期縮短到僅有6個月。另外，設(shè)備內(nèi)含和拓?fù)湔龔膯我幌蚨喙δ芷骷D(zhuǎn)化進(jìn)而涉及整個子系統(tǒng)和系統(tǒng)，并常常作為單一方案(例如智能
關(guān)鍵字：儀器方法測試系統(tǒng)級

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測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運動的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實際實驗。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級學(xué)科);運行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]