測(cè)試文章最新資訊

NI自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望:系統(tǒng)軟件棧

　　軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測(cè)試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況，即雇傭的軟件工程師比硬件工程師多。為了應(yīng)對(duì)軟件開發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開發(fā)周期的縮短，當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧，以確保他們?cè)谲浖矫娴耐度肽?夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上， 2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理
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集成電路電磁干擾EMC測(cè)試方法

標(biāo)簽：電磁干擾 EMC測(cè)試一、前言：集成電路產(chǎn)業(yè)是我國(guó)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)的一個(gè)重要部分，它帶動(dòng)了其它產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，集成電路已成為各個(gè)行業(yè)中電子、機(jī)電設(shè)備智能化的核心，起著十分重要的作用。近年來(lái)越來(lái)越多的電路設(shè)
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巧妙測(cè)試嵌入式USB2.0主機(jī)接口信號(hào)質(zhì)量

中心議題：嵌入式產(chǎn)品中USB2.0主機(jī)接口的眼圖測(cè)試 USB2.0測(cè)試機(jī)理解決方案：使用PC主機(jī)替代嵌入式控制主機(jī) 對(duì)產(chǎn)品板級(jí)USB Hub進(jìn)行Down Stream Facing Port 的Test Packet測(cè)試〔摘要〕本文主要討論了某款嵌入式產(chǎn)
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RF芯片測(cè)試夾具在微波測(cè)量中的應(yīng)用

微波測(cè)量就是利用測(cè)量?jī)x器對(duì)微波進(jìn)行定量實(shí)驗(yàn)的方法。在微波元件、器件和微波設(shè)備的生產(chǎn)過(guò)程中，有許多環(huán)節(jié)需要微波測(cè)量對(duì)其零部件、半成品和成品進(jìn)行檢驗(yàn)，在設(shè)計(jì)時(shí)也需要利用微波測(cè)量獲得必要的數(shù)據(jù)。微波測(cè)量所需
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DDR測(cè)試系列之一――力科DDR2測(cè)試解決方案

DDR2簡(jiǎn)介從1998年的PC100到今天的DDR3，內(nèi)存技術(shù)同CPU前端總線一道經(jīng)歷著速度的提升及帶寬的擴(kuò)展。雖然DDR3在當(dāng)今已經(jīng)量產(chǎn)與使用，DDR2在實(shí)際上還擔(dān)任著內(nèi)存業(yè)界應(yīng)用最廣泛最成熟的中流砥柱的角色。DDR2在DDR的基礎(chǔ)上
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wifi天線制作及其測(cè)試

本制作參考網(wǎng)上搜集的圖紙。據(jù)說(shuō)有大概11DB的增益，完成后測(cè)試確實(shí)如此。材料：工具：

參考圖紙：塑形：簡(jiǎn)單處理蚊香盤安裝天線：巧妙運(yùn)用熱縮管做絕緣層加錫固定：制作固定架：相機(jī)固定架：固定：配件：已
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指針萬(wàn)用表測(cè)試電阻器的方法介紹

電阻器，簡(jiǎn)稱電阻，是電子電路中最基礎(chǔ)的元器件之一，對(duì)電阻器的測(cè)試，是掌握和學(xué)習(xí)電子技術(shù)的基礎(chǔ)技能!以下介紹常見電阻器的測(cè)試方法和經(jīng)驗(yàn)。　　1.固定電阻器　　測(cè)試方法：將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳
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100G步入現(xiàn)網(wǎng)測(cè)試階段產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)苤破骷款i

　　2011年12月～2012年1月之間，中國(guó)電信、中國(guó)移動(dòng)、中國(guó)聯(lián)通先后啟動(dòng)了100G的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。　　日前，中國(guó)電信100G實(shí)驗(yàn)室終于宣告結(jié)束。然而中國(guó)移動(dòng)、中國(guó)聯(lián)通的測(cè)試仍屬進(jìn)行時(shí)，這比二者當(dāng)初規(guī)劃的測(cè)試完成時(shí)間已經(jīng)推遲了1個(gè)多月。　　中國(guó)移動(dòng)100G測(cè)試相關(guān)負(fù)責(zé)人在接受《通信產(chǎn)業(yè)報(bào)》(網(wǎng))記者采訪時(shí)表示，本次實(shí)驗(yàn)室測(cè)試包含傳輸性能測(cè)試、單廠傳輸、路由互通測(cè)試、多廠商互通測(cè)試，涉及廠商眾多，目前測(cè)試已經(jīng)接近尾聲，他說(shuō)：“本次測(cè)試各廠商都表現(xiàn)不錯(cuò)，測(cè)試結(jié)果較為理想、符合預(yù)期，雖然各
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地方政府積極申請(qǐng) TD-LTE測(cè)試或?qū)⒃僭鋈鞘?

　　7月5日消息，消息人士表示，日前又有3個(gè)城市擬申請(qǐng)參與TD-LTE規(guī)模技術(shù)試驗(yàn)，而關(guān)于這3座城市已經(jīng)有不同版本。　　2011年，中國(guó)移動(dòng)宣布在杭州等六個(gè)城市進(jìn)行TD-LTE規(guī)模試驗(yàn)網(wǎng)的建設(shè)，目前已有10個(gè)城市對(duì)市民開放了網(wǎng)絡(luò)體驗(yàn)活動(dòng)。　　2012年，中國(guó)移動(dòng)將在北京、天津、上海、南京、杭州、廣州、深圳、廈門、青島等城市建設(shè)超過(guò)2萬(wàn)個(gè)TD-LTE基站;2013年，TD-LTE擴(kuò)大規(guī)模試驗(yàn)取得成功后，TD-LTE基站規(guī)模將超過(guò)20萬(wàn)個(gè)。　　最近，又有消息稱TD-LTE測(cè)試將再增三城市，一種說(shuō)法
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淺談電磁兼容控制、設(shè)計(jì)及其測(cè)試

摘要: 本文提出了對(duì)電磁兼容性的控制方法，以及針對(duì)不同的設(shè)備或系統(tǒng)不同的設(shè)計(jì)方案，并介紹了電磁兼容性的測(cè)試。關(guān)鍵詞: 電磁兼容性;控制;設(shè)計(jì);測(cè)試自從電子系統(tǒng)降噪技術(shù)在70 年代中期出現(xiàn)以來(lái)，美國(guó)聯(lián)邦通訊委員會(huì)
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無(wú)線路由網(wǎng)絡(luò)的安全的性能如何測(cè)試

標(biāo)簽：無(wú)線路由性能測(cè)試當(dāng)前的技術(shù)進(jìn)步已經(jīng)使無(wú)線連接成為家庭的必備技術(shù)，我們的筆記本電腦、手機(jī)、MP3播放機(jī)、藍(lán)光DVD播放機(jī)、甚至電視機(jī)都需要無(wú)線網(wǎng)絡(luò)連接，而為了利用這些設(shè)備的無(wú)線功能，我們必須要有網(wǎng)絡(luò)連
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LD0、QLDO、VLDO的設(shè)計(jì)原理及測(cè)試方法介紹

O 引言　　近年來(lái)低壓差穩(wěn)壓器(LD0，Low Dropout Regulator)、準(zhǔn)低壓差穩(wěn)壓器(QLDO，Quasi Low Dropout Regulator)和超低壓差穩(wěn)壓器(VLD0，Very Low Dropout Regulator)競(jìng)相問(wèn)世，并在低壓供電領(lǐng)域獲得推廣應(yīng)用?！　?/li>
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智能型重力加速度測(cè)試儀的研制

摘要：智能型重力加速度測(cè)試儀，是在原單擺實(shí)驗(yàn)裝置的基礎(chǔ)上，采用單片機(jī)和紅外光電傳感器實(shí)現(xiàn)對(duì)擺球的檢測(cè)和控制，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)釋放擺球、自動(dòng)計(jì)數(shù)、自動(dòng)計(jì)時(shí)、同時(shí)將檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行自動(dòng)處理，算出重力加速度。使傳統(tǒng)
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IP電話及ATA設(shè)備的選型：測(cè)試指標(biāo)與方法

標(biāo)簽：ATA IAD術(shù)語(yǔ)及定義：IP電話：本文中具體指具有RJ45網(wǎng)絡(luò)接口及傳統(tǒng)電話外觀的，基于SIP協(xié)議進(jìn)行通訊的硬件IP電話。運(yùn)行于PC機(jī)上的純軟件IP電話的評(píng)估本文并不涉及。ATA：Analog Telephone Adapter，模擬電話適
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電池設(shè)計(jì)的元器件選擇以及測(cè)試

1 元器件選擇標(biāo)準(zhǔn)1.1 保護(hù)IC選擇● 中高端：MM3280H02 , 精工8261AAGMD,理光R5400N110FA● 低端：復(fù)合IC 等● 個(gè)別客戶的特別要求1.2 MOSFET選擇● 中高端：松下MTMC8E2A0L;AON3816,Magna等● 低端：MOS 8205等1.3 電
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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]