測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

電路評(píng)估與測(cè)試 - 單電源、低功耗的可編程窗口檢測(cè)

電路評(píng)估與測(cè)試設(shè)備要求(可以用同等設(shè)備代替)EVAL-SDP-CB1Z系統(tǒng)演示平臺(tái)CN-0182電路評(píng)估板(EVAL-CN0182-SDZ)CN-0182評(píng)估軟件TektronixTDS2024，4通道示波器HP-E3630A0V至6V、2.55Aplusmn;20V、0.5A三路輸出直流電源
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基于FPGA的LCD測(cè)試用信號(hào)發(fā)生器設(shè)計(jì)

摘要：在檢測(cè)液晶屏特性和質(zhì)量時(shí)，需要控制液晶屏顯示一些標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。已有的一些信號(hào)產(chǎn)生設(shè)備產(chǎn)生的是AV信號(hào)、VGA信號(hào)或YPhPr信號(hào)等模擬制式的信號(hào)。模擬制式的信號(hào)需要經(jīng)過(guò)圖形處理器(GPU)轉(zhuǎn)換成數(shù)字LVDS信號(hào)，然后輸
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基于電流測(cè)試的混合電路故障診斷

摘要：在運(yùn)用小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行混合電路故障診斷的過(guò)程中，測(cè)試參數(shù)的選取至關(guān)重要。研究了一種基于電流測(cè)試的故障診斷。該方法即通過(guò)PSPICE模擬電路的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)電流信息，再通過(guò)小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的結(jié)合，證明了該方法在
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手機(jī)電磁兼容測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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40/100G高速以太網(wǎng)測(cè)試解決方案

標(biāo)簽：以太網(wǎng) 并行通道隨著40/100G高速以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)IEEE 802.3ba的標(biāo)準(zhǔn)最終確定，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備廠商在40/100G方面開(kāi)始推出產(chǎn)品，運(yùn)營(yíng)商也開(kāi)始評(píng)估高速網(wǎng)絡(luò)的未來(lái)發(fā)展方向。40/100G和10G以太網(wǎng)相比較，主要是在光電接口和物
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風(fēng)電機(jī)組控制系統(tǒng)測(cè)試：測(cè)試質(zhì)量與效率的提升

“因?yàn)镹I 的系統(tǒng)，讓我們內(nèi)部的測(cè)試時(shí)間從五天減少成一天，產(chǎn)能也同時(shí)增加?，F(xiàn)在我們可以自動(dòng)測(cè)試產(chǎn)品的所有功能，這讓我們無(wú)形中提升了市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。”ndash; Michael Bove, kk-electronic A/S 挑戰(zhàn)：將風(fēng)
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DRM系統(tǒng)及其測(cè)試接收機(jī)的設(shè)計(jì)方案

DRM系統(tǒng)采用OFDM調(diào)制方式，引入了先進(jìn)的信源信道編碼和調(diào)制技術(shù)，使得AM波段的音頻廣播質(zhì)量大大提高，在保持現(xiàn)有10kHz帶寬時(shí)接近了FM廣播的質(zhì)量?！　”疚氖紫群?jiǎn)單介紹DRM系統(tǒng)，然后重點(diǎn)討論DRM測(cè)試接收機(jī)的設(shè)計(jì)背景
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一種太陽(yáng)能光伏電池電氣性能的測(cè)試

太陽(yáng)能光伏電池(簡(jiǎn)稱光伏電池)用于把太陽(yáng)的光能直接轉(zhuǎn)化為電能。目前地面光伏系統(tǒng)大量使用的是以硅為基底的硅太陽(yáng)能電池，可分為單晶硅、多晶硅、非晶硅太陽(yáng)能電池。在能量轉(zhuǎn)換效率和使用壽命等綜合性能方面，單晶硅
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高亮度LED的高精度高性價(jià)比測(cè)試

可見(jiàn)光發(fā)光二極管(LED)兼具高效率和長(zhǎng)壽命的特點(diǎn)。目前，它們的應(yīng)用十分廣泛。制造商們通過(guò)對(duì)LED器件的深入研究已經(jīng)研制出了具有更高光通量、更長(zhǎng)壽命、更多色彩和更高每瓦流明數(shù)的新器件。精確而高性價(jià)比的測(cè)試對(duì)于
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使用示波器和波形發(fā)生器對(duì)元器件進(jìn)行測(cè)試的方法

本文說(shuō)明了使用示波器和波形發(fā)生器對(duì)元器件進(jìn)行測(cè)試的方法。將展示電容、電感、二極管、雙極晶體管及電纜的測(cè)試過(guò)程。這些測(cè)試方法可用于確定故障部件或識(shí)別無(wú)標(biāo)注元器件的作用?！　y(cè)試配置　　本測(cè)試案例的基本理
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扣式電池的充放電測(cè)試簡(jiǎn)介

扣式電池組裝成型后，靜置6小時(shí)，即可進(jìn)行充放電實(shí)驗(yàn)。用恒電流方式對(duì)電池進(jìn)行充放電，充放電的條件視實(shí)驗(yàn)需要不同而定。通過(guò)不同充放電電流倍率、不同的充放電電壓范圍的恒電流充放電實(shí)驗(yàn)來(lái)測(cè)量電池的首次充放電容量
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力科發(fā)布多通道串行數(shù)據(jù)眼圖、抖動(dòng)、串?dāng)_分析工具

力科公司，全球串行信號(hào)分析解決方案領(lǐng)導(dǎo)者，發(fā)布了全新的多通道串行數(shù)據(jù)眼圖、抖動(dòng)、串?dāng)_分析工具SDAIII-CompleteLinQ，這是一套集成串行數(shù)據(jù)眼圖分析、抖動(dòng)分析、串?dāng)_分析、不同通道串行數(shù)據(jù)之間對(duì)比、虛擬探測(cè)、信號(hào)完整新仿真等功能于一體的多功能分析平臺(tái)。
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數(shù)字內(nèi)容保護(hù)HDCP兼容測(cè)試大揭秘

標(biāo)簽：HDCP DCPHDCP(High-Bandwidth Digital Content Protection;高頻寬數(shù)字內(nèi)容保護(hù))是由Intel子公司Digital Content Protection LLC(DCP)開(kāi)發(fā)的一項(xiàng)保護(hù)數(shù)字娛樂(lè)內(nèi)容的技術(shù)，用以確保數(shù)字化的影像與聲音數(shù)據(jù)在通
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通信類終端的嵌入式USB2.0 主機(jī)的測(cè)試分析

一前言　　在高速串行技術(shù)如此廣泛應(yīng)用的今天，簡(jiǎn)單易用的USB堪稱是PC平臺(tái)上最成功的I/O技術(shù)，普及率幾乎100%。而且隨著終端用戶對(duì)于高速USB設(shè)備應(yīng)用需求的不斷增加，越來(lái)越多的嵌入式通信類終端產(chǎn)品開(kāi)始增加了USB2
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McWiLL技術(shù)測(cè)試及業(yè)務(wù)發(fā)展策略

1、概述近年來(lái)，隨著寬帶無(wú)線接入技術(shù)的逐漸成熟，其先進(jìn)的技術(shù)、良好的系統(tǒng)性能、簡(jiǎn)單的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)、建設(shè)速度快、覆蓋范圍廣、便于快速發(fā)展用戶等特點(diǎn)以及能夠提供固定和移動(dòng)融合業(yè)務(wù)等特性獲得運(yùn)營(yíng)商的日益關(guān)注，各大
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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]