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未來推動芯片尺寸微縮的五種技術

作者: 時間:2009-07-03 來源:semi 收藏

  IC尺寸微縮仍面臨挑戰(zhàn)。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/95909.htm

  為了使芯片微縮,總是利用光刻技術來推動。然而近期Sematech在一次演講中列舉了可維持的其他一些技術。

  1. 零低k界面:在目前Intel的45nm設計中,采用硅襯底和高k金屬柵。在硅與高k材料之間有低k材料。對于零低k界面,免去了低k材料,提高驅動電流并減少漏電。這是16nm節(jié)點的一種選擇。

  2. 單金屬柵堆疊:與傳統(tǒng)晶體管相比,高k金屬柵利用了單金屬柵堆疊結構,這改善了晶體管性能,且降低了器件功耗。

  3. III-V族材料上柵堆疊:Intel、Sematech等已在討論在未來設計中采用InGaAs/高k界面。這種方法也能改善性能降低功耗。

  4. 量子阱MOSFET:在硅上采用硅鍺結構是改善性能的一種方法。Intel近期展示了一款高速低功耗量子阱場效應晶體管。這種P溝道結構將基于40nm InSb材料。

  5. 基于通孔硅技術的:Sematech近期透露了建立基于通孔硅技術的300mm 研發(fā)計劃。



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