集成運算放大器參數(shù)測試儀校準裝置的開發(fā) 作者： 時間：2010-06-28 來源：網(wǎng)絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 主要技術要求如表3所示。 校準裝置不確定度來源分析 集成運放參數(shù)測試儀校準裝置的電壓、電流等參數(shù)的不確定度來源，主要包括數(shù)字多用表、數(shù)字示波器、數(shù)字納伏表的參數(shù)測量不準確，模擬校準裝置和補償校準裝置給出參數(shù)的不準確，以及這些參數(shù)測量的重復性。 上一頁 1 2 3 4 5 下一頁
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