FPGA異步FIFO設(shè)計(jì)中的問(wèn)題與解決辦法
作者：
時(shí)間：2009-09-18
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)
收藏
加入技術(shù)交流群
掃碼加入
和技術(shù)大咖面對(duì)面交流
海量資料庫(kù)查詢(xún)
本系統(tǒng)采用QuartusIl8．1對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行仿真，由于系統(tǒng)深度較大，所以設(shè)定仿真時(shí)間為100 μs。系統(tǒng)剛上電時(shí)，雙端口RAM中暫時(shí)沒(méi)有數(shù)據(jù)，此時(shí)系統(tǒng)處于讀空狀態(tài)，empty變?yōu)楦唠娖?，full保持低電平，如圖3所示。隨著RAM中數(shù)據(jù)的不斷寫(xiě)入，系統(tǒng)進(jìn)入寫(xiě)滿(mǎn)狀態(tài)，此時(shí)full變?yōu)楦唠娖?，而empty變?yōu)榈碗娖?，如圖4所示。本文引用地址：http://www.bjwjmy.cn/article/191924.htm
結(jié) 語(yǔ)
本文根據(jù)異步FIFO設(shè)計(jì)的難點(diǎn)和要點(diǎn)，提出了具體的解決方案。在空／滿(mǎn)標(biāo)志位產(chǎn)生條件的判斷上提出了“檢測(cè)+計(jì)數(shù)器”的新思路，使系統(tǒng)設(shè)計(jì)方便實(shí)用，并采用格雷碼方式降低了亞穩(wěn)態(tài)出現(xiàn)的概率。通過(guò)驗(yàn)證，這種方法在有效判斷空／滿(mǎn)標(biāo)志位方面有很大的優(yōu)勢(shì)。
評(píng)論