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ate iflex
NI與領(lǐng)先的ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)合作實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)分析
測(cè)試測(cè)量
NI
Global Operations
ATE
泰瑞達(dá)
Teradyne
|
2023-10-17
如何為ATE應(yīng)用創(chuàng)建具有拉電流和灌電流功能的雙輸出電壓軌
電源與新能源
ADI
ATE
|
2023-02-27
英國(guó)Pickering公司公布三管齊下方案 應(yīng)對(duì)產(chǎn)品淘汰問題
測(cè)試測(cè)量
Pickering
產(chǎn)品淘汰
ATE
|
2023-01-12
PI發(fā)布新型SCALE-iFlex產(chǎn)品以應(yīng)對(duì)功率變換新挑戰(zhàn)
工控自動(dòng)化
PI
雙通道門極驅(qū)動(dòng)器
SCALE-iFlex LT
SCALE-iFlex Single
|
2021-09-13
Power Integrations推出適用于“新型雙通道”模塊的SCALE-iFlex Single即插即用型門極驅(qū)動(dòng)器
工控自動(dòng)化
PI
雙通道門機(jī)驅(qū)動(dòng)器
SCALE-iFlex?Single
IGBT
|
2021-09-09
Power Integrations的新型SCALE-iFlex LT即插即用型門極驅(qū)動(dòng)器可將EconoDUAL IGBT模塊的性能提高20%
工控自動(dòng)化
PI
雙通道門機(jī)驅(qū)動(dòng)器
SCALE-iFlex?LT
|
2021-09-09
Wi-Fi芯片基于IFLEX量產(chǎn)測(cè)試開發(fā)淺析
手機(jī)與無線通信
202006
2.4G/5G
雙頻Wi-Fi芯片
ATE IFLEX
量產(chǎn)測(cè)試
硬件和軟件
|
2020-05-27
芯片測(cè)試機(jī)面臨新挑戰(zhàn)，泰瑞達(dá)系列舉措捍衛(wèi)品牌
測(cè)試測(cè)量
測(cè)試機(jī)
ATE
芯片
|
2019-12-07
利用ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻
測(cè)試測(cè)量
ATE
自動(dòng)測(cè)試
設(shè)備
測(cè)試電源
|
2018-09-11
羅德與施瓦茨成為首家通過RCS 5.3一致性用例認(rèn)證的測(cè)試儀表廠商
手機(jī)與無線通信
R&S
CMW-ATE
|
2018-03-26
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求
測(cè)試測(cè)量
ate
是德科技
pxie
示波器
|
2017-10-11
基于PXI平臺(tái)的下一代半導(dǎo)體ATE解決方案
測(cè)試測(cè)量
ATE
PXI
|
2017-08-17
挑戰(zhàn)傳統(tǒng)ATE，測(cè)試廠商發(fā)力半導(dǎo)體測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
ATE
PXI
NI
半導(dǎo)體測(cè)試
|
2017-06-19
NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)
工控自動(dòng)化
NI
ATE
PXI平臺(tái)
|
2016-10-10
PXI加入戰(zhàn)局，ATE全面模塊化時(shí)代到來
測(cè)試測(cè)量
PXI
ATE
NI
模塊化
半導(dǎo)體測(cè)試
|
2015-07-01
波士頓半導(dǎo)體推出Aetrium分選機(jī)直銷與服務(wù)
模擬技術(shù)
BSE
Aetrium
ATE
|
2014-06-26
消費(fèi)類音視頻SoC系統(tǒng)的ATE測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
SoC
ATE
消費(fèi)類
系統(tǒng)
|
2012-12-07
基于ATE測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻簡(jiǎn)介
測(cè)試測(cè)量
ATE
測(cè)試電源
負(fù)載
數(shù)字可編程
|
2012-10-27
基于ATE測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻
測(cè)試測(cè)量
ATE
測(cè)試電源
負(fù)載
數(shù)字可編程
|
2012-10-02
基于ATE推動(dòng)WiMAX射頻測(cè)試與特征描述
ATE
射頻測(cè)試
特征描述
WiMAX
|
2012-04-17
ATE促進(jìn)WiMAX射頻測(cè)試與特征描述
測(cè)試測(cè)量
WiMAX
ATE
射頻測(cè)試
|
2012-04-13
利用ATE測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻
測(cè)試測(cè)量
ATE
測(cè)試電源
負(fù)載
數(shù)字可編程
|
2012-01-02
理解ATE SPI (串行外設(shè)接口)
模擬技術(shù)
ATE
SPI
串行外設(shè)
|
2011-11-22
Test Advantage通過收購(gòu)Microstats拓展亞洲業(yè)務(wù)
測(cè)試測(cè)量
BSE
ATE
|
2011-06-10
e絡(luò)盟新增Fluke多功能鉗表系列
測(cè)試測(cè)量
Fluke
e絡(luò)盟
iFlex
柔性電流探頭
|
2011-01-18
利用ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編
測(cè)試測(cè)量
ATE
自動(dòng)測(cè)試
設(shè)備
測(cè)試電源
|
2010-08-08
ATE 8月高調(diào)亮相深圳
嵌入式系統(tǒng)
展會(huì)
ATE
道康寧
汽車
電子
通訊
家用電器
醫(yī)療設(shè)備
|
2008-07-07
利用多路輸出電源實(shí)現(xiàn)ATE系統(tǒng)的最大靈活性和經(jīng)濟(jì)性
電源與新能源
最大
靈活性
經(jīng)濟(jì)性
系統(tǒng)
ATE
輸出
電源
實(shí)現(xiàn)
利用
|
2008-06-18
用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
測(cè)試測(cè)量
ATE
邊界掃描
UUT
|
2008-04-10
Gartner:08全球半導(dǎo)體設(shè)備開支將降9.9%
網(wǎng)絡(luò)與存儲(chǔ)
半導(dǎo)體
NAND
閃存
IC自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
ATE
|
2008-01-09
中航光電：軍品民品并舉 打造連接器龍頭
元件/連接器
嵌入式系統(tǒng)
單片機(jī)
中航光電
連接器
光電傳輸
IC自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
ATE
|
2007-11-09
通用化測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)
測(cè)試測(cè)量
測(cè)試
測(cè)量
航天測(cè)控
ATE/ATS
信號(hào)調(diào)理
測(cè)試測(cè)量
|
2007-10-26
破解材料和工藝難題 FPC向中高端演進(jìn)
消費(fèi)電子
消費(fèi)電子
印制電路板
FPC
IC封裝
IC自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
ATE
|
2007-09-21
傳感器與執(zhí)行器：引領(lǐng)IC市場(chǎng)下一輪增長(zhǎng)
工控自動(dòng)化
嵌入式系統(tǒng)
單片機(jī)
傳感器
執(zhí)行器
IC
IC自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
ATE
|
2007-09-18
節(jié)電模式降低繼電器驅(qū)動(dòng)功耗
電源與新能源
ATE
電流
線圈
|
2007-03-19
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人形機(jī)器人
汽車
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