矩陣開關文章進入矩陣開關技術社區(qū)

用4200A和矩陣開關搭建自動智能的可靠性評估平臺

_____在現(xiàn)代ULSI電路中溝道熱載流子（CHC）誘導的退化是一個重要的與可靠性相關的問題。載流子在通過MOSFET通道的大電場加速時獲得動能。當大多數(shù)載流子到達漏極時，熱載流子（動能非常高的載流子）由于原子能級碰撞的沖擊電離，可以在漏極附近產(chǎn)生電子—空穴對。其他的可以注入柵極通道界面，打破Si-H鍵，增加界面態(tài)密度。CHC的影響是器件參數(shù)的時間相關的退化，如VT、IDLIN和IDSAT。這種通道熱載流子誘導的退化（也稱為HCI或熱載流子注入）在NMOS和PMOS器件上都可以看到，并會影響所有區(qū)域的器件
關鍵字： 4200A 矩陣開關可靠性評估平臺 Clarius軟件泰克

基于NIOS Ⅱ處理器的大規(guī)模矩陣開關的設計原理與實現(xiàn)方法

提出了基于NIOS Ⅱ處理器的大規(guī)模矩陣開關的設計原理與實現(xiàn)方法，介紹了矩陣開關的特點和結構，重點論述了NIOS Ⅱ處理器和矩陣開關電路的設計。最后，說明了設計的矩陣開關在板級測試系統(tǒng)中的應用及其效果。
關鍵字：矩陣開關 NIOSⅡ 板級測試系統(tǒng)

基于FPGA的基帶64×64數(shù)據(jù)分配矩陣設計方案

本文采用FPGA作為實現(xiàn)控制邏輯的核心部件，提出了基于FPGA的基帶64×64 數(shù)據(jù)分配矩陣設計方案，并介紹了上位機的軟件設計思路和FPGA的內部編程實現(xiàn)及仿真。經(jīng)驗證該方案具有規(guī)模大、成本低、高速等特點，可廣泛應用于大規(guī)?；鶐?shù)字系統(tǒng)測試及信號程控分配調度中。
關鍵字： Altera FPGA 矩陣開關 ARM 基帶數(shù)字

剖析多槽矩陣開關（BRIC）

BRIC是一種高密度開關矩陣，能夠占據(jù)4或8口的PXI target=_blank>PXI的所有插槽。BRIC采用模塊化結構，這樣可以建立不同規(guī)模的矩陣，并且可以由用戶自己定義X軸和Y軸上的節(jié)點數(shù)量。
基本的BRIC包含一個
關鍵字： BRIC 矩陣開關

優(yōu)化測試系統(tǒng)中的矩陣開關使用方法

關鍵字：測試系統(tǒng) 矩陣開關對于任何測試系統(tǒng)來說，開關系統(tǒng)都是至關重要的一部分。它可以將待測單元（DUT）的接入點和各種不同的資源進行連接，并且對設備進行測試，從而核實設備中的這部分功能的效用。開關可以給很
關鍵字：測試系統(tǒng) 矩陣開關方法

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矩陣開關介紹

　　矩陣開關顧名思義，指結構為行(Row)列(Column)交叉排布的開關產(chǎn)品，其特點為每個節(jié)點(CrossPoint)連接一個行/列，每個節(jié)點可以單獨操作，通過設置節(jié)點的不同組合可以實現(xiàn)信號的路由。矩陣開關的使用非常靈活方便，是目前程控開關產(chǎn)品中品種最多的產(chǎn)品，在汽車電子、半導體測試、航空航天等領域得到了廣泛的應用。　　內部128模擬開關、內部地址譯碼及鎖存控制；　　低導通電阻，且保證導通電阻的 [ 查看詳細 ]

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基于NIOS Ⅱ處理器的大規(guī)模矩陣開關的設計原理與實現(xiàn)方法

基于FPGA的基帶64×64數(shù)據(jù)分配矩陣設計方案

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優(yōu)化測試系統(tǒng)中的矩陣開關使用方法

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