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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 電學(xué)基本參量測量

邏輯分析儀在數(shù)字電路測試中的觸發(fā)選擇

  • 1 引 言   隨著數(shù)字技術(shù)的日新月異,在數(shù)字系統(tǒng),特別是在計算機(jī)系統(tǒng)的研制、調(diào)試和故障診斷過程中,由模擬系統(tǒng)的時域和頻域分析發(fā)展起來的傳統(tǒng)測試方法與測試儀器往往難以奏效,于是新的數(shù)據(jù)域測試的理論、方法和相應(yīng)的測試儀器不斷涌現(xiàn)。邏輯分析儀作為數(shù)據(jù)域測試儀器中最有用、最有代表性的一種儀器,性能與功能日益完善,已成為調(diào)試與研制復(fù)雜數(shù)字系統(tǒng),尤其是汁算機(jī)系統(tǒng)的強(qiáng)有力工具。   在邏輯分析儀中,利用觸發(fā)字或觸發(fā)事件的序列來控制對數(shù)據(jù)的存儲和顯示,以便住數(shù)據(jù)流中挑選一個恰當(dāng)?shù)挠^察窗口。觸發(fā)能力是邏輯分析儀最重
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電學(xué)基本參量測量介紹

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