- 封裝技術(shù)的進步推動了三維(3D)集成系統(tǒng)的發(fā)展。3D集成系統(tǒng)可能對基于標準封裝集成技術(shù)系統(tǒng)的性能、電源、功能密度和外形尺寸帶來顯著改善。雖然這些高度集成系統(tǒng)的設(shè)計和測試要求仍在不斷變化,但很顯然先進的測試自
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3D芯片 測試 堆疊
- 功耗是當今電子設(shè)計以及測試中最熱門也是競爭最激烈的領(lǐng)域之一。這是因為人們對高能效有強烈需求,希望能充分利用電池能量,幫助消減能源帳單,或者支持空間敏感或熱量敏感型應(yīng)用。在經(jīng)過30年的發(fā)展之后,硅MOSFET發(fā)
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GaN 測試
- 如果哪位仁兄沒有遇到過接地的問題,肯定不是干EE的! 在研發(fā)和測試過程中的接地都很重要。不良的接地,不僅可能導(dǎo)致錯誤的測量,甚至?xí)p壞儀器和被測件。 例如, 在使用示波器時, 會看到很大的噪聲和詭異的波形,
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接地 測試
- 有一位仁兄,從事軍用計算機的測試工作。軍用計算機的要求與我們民用的有很大的區(qū)別。如果我們自己選用的PC機,我們關(guān)心的可能是CPU的速度、存儲器、內(nèi)存、顯卡等等。但軍用計算機需要考慮的首要問題,就是可靠性。
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測試 萬用表
- 1、輻射發(fā)射測試測試電子、電氣和機電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射,包括來自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射,用來鑒定其輻射是否符合標準的要求,一致在正常使用過程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。2、傳導(dǎo)騷擾測試為了
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電磁兼容 測試
- 汽車換心行動是當下主流的趨勢,汽車的動力來源將由電機取代傳統(tǒng)的內(nèi)燃機,今天我們就來做一次別開生面的“大手術(shù)”。
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新能源汽車 電機 測試
- 費思電子負載針對快速充電器的測試應(yīng)用:只要按一下按鍵,負載會自動開始測試,并對快速充電器進行輸出狀態(tài)改變觸發(fā),配合輸出改變,完成各種輸出狀態(tài)的測試,自動完成測試,自動給出判斷??焖俪潆娖鲬?yīng)用廣泛,是未
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快速充電 測試 費思
- 引言:當今由于電子產(chǎn)品對數(shù)據(jù)吞吐率要求越來越高,這使得信號傳輸速率也越來越高且往往需要多個通道同時傳輸,這給測試帶來了很大的挑戰(zhàn)。當今由于電子產(chǎn)品對數(shù)據(jù)吞吐率要求越來越高,這使得信號傳輸速率也越來越高
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高速串行總線 測試 模塊化示波器
- 很多朋友都有購買耳機的經(jīng)驗,當我們穿梭在琳瑯滿目的電子市場中,各種造型和價位的耳機讓我們無所適從,有的耳機要價千元以上,而有的卻只賣幾元錢,差價令人咋舌。為何同樣是耳機,售價卻如此懸殊呢?除了品牌含金
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底噪 示波器 測試
- 處理器的使用在進入實際測試實例之前,我們先討論用于此測試應(yīng)用的新儀器特性。2600系列源表具有強大的嵌入式計算機或測試腳本處理器,因而能實現(xiàn)在堆架式儀器中從未見過的功能。可以將完整的測試程序(腳本)下載至T
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測試 it 吉時利 測量
- 圖1描述了實際系統(tǒng)對1A負載電流脈沖的電壓響應(yīng)(下面的曲線)。負載是阻性的,電纜長度可以忽略(負載直接連在電源輸出端)。負載電壓對負載電流脈沖上升沿和下降沿的響應(yīng)顯示了10mV壓降與10mV過沖。這非常接近于能夠?qū)?/li>
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測試 it 吉時利 測量
- 電容器檢測方法主要分為三個大類:可變電容器的檢測、電解電容器的檢測、固定電容器的檢測。1、可變電容器的檢測A用手輕輕旋動轉(zhuǎn)軸,應(yīng)感覺十分平滑,不應(yīng)感覺有時松時緊甚至有卡滯現(xiàn)象。將載軸向前、后、上、下、左
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電容器 測試 測量
- 伴隨著自動化領(lǐng)域的不斷向前發(fā)展,變頻器的應(yīng)用也深入到了各行各業(yè)各個領(lǐng)域,變頻器也在不斷地推陳出新,功能越來越強大,可靠性也相應(yīng)地越來越高。但是如果使用不當,操作有誤,維護不及時,仍會發(fā)生故障或運行狀況
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變頻器 測試 測量
- 電路評估與測試設(shè)備要求(可以用同等設(shè)備代替)EVAL-SDP-CB1Z系統(tǒng)演示平臺CN-0182電路評估板(EVAL-CN0182-SDZ)CN-0182評估軟件TektronixTDS2024,4通道示波器HP-E3630A0V至6V、2.55Aplusmn;20V、0.5A三路輸出直流電源
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電路 測試 單電源 窗口檢測器
- Qualcomm Incorporated今日宣布成立高通通訊技術(shù)(上海)有限公司(Qualcomm Communication Technologies (Shanghai) Co. Ltd.) ,新公司位于上海外高橋自由貿(mào)易區(qū),擁有半導(dǎo)體測試設(shè)施,這也是Qualcomm首次涉足半導(dǎo)體制造測試業(yè)務(wù)。通過與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體封裝和測試服務(wù)提供商Amkor Technologies, Inc.合作,新公司將Amkor豐富的測試服務(wù)經(jīng)驗和尖端的凈室設(shè)施與Qualcomm Technologies行業(yè)領(lǐng)先的前
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高通 測試
測試介紹
中文名稱:
測試
英文名稱:
test
定義1:
對在受控條件下運動的裝備,進行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科)
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