測試文章進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)

邏輯分析儀的使用方法？邏輯分析儀和示波器有什么區(qū)別

什么是邏輯分析儀?邏輯分析儀是分析數(shù)字系統(tǒng)邏輯關(guān)系的儀器。邏輯分析儀是屬于數(shù)據(jù)域測試[2]儀器中的一種總線分析儀，即以總線(多線)概念為基礎(chǔ)，同時(shí)
關(guān)鍵字：測試

詳解逆變器電路工作原理

逆變器，別稱為變流器、反流器，是一種可將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的器件，由逆變橋、邏輯控制、濾波電路三大部分組成。它主要包括輸入接口、電壓啟動(dòng)回路
關(guān)鍵字：測試

淺析溶液浸入工藝制備全固態(tài)鋰離子電池

隨著鋰離子電池技術(shù)的不斷發(fā)展，對能量密度的追求也越來越高，在國家最新公布的的指導(dǎo)方針中提出，到2020年，動(dòng)力電池的單體比能量要達(dá)到300Wh/kg，這
關(guān)鍵字：測試

測量的不確定度概念

1、什么是測量?1)測量告知我們關(guān)于某物的屬性。測量總是用某種儀器來實(shí)現(xiàn)的。2)測量結(jié)果：通常兩部分組成：一個(gè)數(shù)和一個(gè)測量單位。2、什么是測量不確定
關(guān)鍵字：測試

開關(guān)電源32個(gè)測試項(xiàng)（二）

10.下降時(shí)間測試一、目的:測試S.M.P.S. POWER ON時(shí),各組輸出從90% ~ 10% POINT之下降時(shí)間(常規(guī)定義ge;5mS);二.使用儀器設(shè)備:(1). AC SOURCE /交流電源
關(guān)鍵字：測試

超聲波探傷原理及傳感器測試與設(shè)計(jì)

超聲波換能器，喇叭和聲套是將電能轉(zhuǎn)換為振動(dòng)的裝置。要了解操作原理，可以在超聲波焊接機(jī)和汽車之間進(jìn)行比較。傳感器執(zhí)行能量轉(zhuǎn)換(作為)，變壓器調(diào)節(jié)
關(guān)鍵字：測試傳感器

電路板設(shè)計(jì)為什么要設(shè)置這些測試點(diǎn)？

對學(xué)電子的人來說，在電路板上設(shè)置測試點(diǎn)(test point)是在自然不過的事了，可是對學(xué)機(jī)械的人來說，測試點(diǎn)是什么?基本上設(shè)置測試點(diǎn)的目的是為了測試電路
關(guān)鍵字：測試

淺析純電動(dòng)乘用車大功率快充技術(shù)

純電動(dòng)乘用車大功率快速充電就是采用高電壓、大電流，短時(shí)間內(nèi)將電動(dòng)汽車充滿電。這一功能的實(shí)現(xiàn)在很大程度上決定了用車的便利性。目前快速充電、長續(xù)
關(guān)鍵字：測試大功率

PCB設(shè)計(jì)中高速背板設(shè)計(jì)過程

在ldquo;幾大高速中的隱形殺手rdquo;中提到了ldquo;高速背板與高速背板rdquo;，那么高速背板是如何設(shè)計(jì)出來的，從頭到尾會(huì)有哪些設(shè)計(jì)步驟，每個(gè)環(huán)
關(guān)鍵字：測試

詳解芯片的設(shè)計(jì)生產(chǎn)流程

大家都是電子行業(yè)的人，對芯片，對各種封裝都了解不少，但是你知道一個(gè)芯片是怎樣設(shè)計(jì)出來的么?你又知道設(shè)計(jì)出來的芯片是怎么生產(chǎn)出來的么?看完這篇文
關(guān)鍵字：測試放大器

如何輕松搭建一個(gè)IoT通知設(shè)備

在世界中，各種電子設(shè)備通過無線電通信。比如基于802.11 b/g/n的WiFi協(xié)議和BLE(低功耗藍(lán)牙)允許這些電子設(shè)備使用其通信方案共享數(shù)據(jù)。像ESP8266和ESP3
關(guān)鍵字：控制測試微控制器

從國際標(biāo)準(zhǔn)分析LED色容差

色容差定義及麥克亞當(dāng)橢圓理論色容差：表征光色電檢測系統(tǒng)軟件計(jì)算的X、Y值與標(biāo)準(zhǔn)光源之間差別。數(shù)值越小，表示產(chǎn)品光色坐標(biāo)和標(biāo)準(zhǔn)值越接近，光源發(fā)出
關(guān)鍵字：測試 LED

增強(qiáng)UV LED的透明導(dǎo)電性新方法

ITO跟有什么關(guān)系?ITO是一種透明的電極材料，具有高的導(dǎo)電率、高的可見光透過率、高的機(jī)械硬度和良好的化學(xué)穩(wěn)定性。目前ITO膜主要是為了提高LED的出光效
關(guān)鍵字：功率測試 LED

一文了解MEMS晶圓級(jí)測試系統(tǒng)

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)屬于21 世紀(jì)前沿技術(shù)，是對MEMS加速度計(jì)、MEMS 陀螺儀及慣性導(dǎo)航系統(tǒng)的總稱。MEMS 器件特征尺寸從毫米、微米甚至到納米量級(jí)，涉及機(jī)械
關(guān)鍵字：測試測量頻率

PET背板，創(chuàng)新還是“創(chuàng)心”

背板作為晶硅的關(guān)鍵部件，對組件的安全性、使用壽命和降低功率衰減起著至關(guān)重要的作用。要達(dá)到保護(hù)電池片的目的，背板必須具備良好的機(jī)械強(qiáng)度與韌性、
關(guān)鍵字：功率測試

共2423條 11/162 |‹ « 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 » ›|

測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]