Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測(cè)試芯片。據(jù)悉該技術(shù)可為新興的USB 3.0接口技術(shù)提高速度。

　　該測(cè)試芯片專(zhuān)為USB 3.0設(shè)計(jì)，可在超過(guò)4米的USB 3.0傳輸線(xiàn)上驅(qū)動(dòng)及接收信號(hào)，并保持?jǐn)?shù)據(jù)的完整性。