美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI) “第十五屆圖形化系統(tǒng)設計征文競賽”已于近日正式啟動。此次大賽針對所有使用NI產(chǎn)品的用戶，旨在進一步推動圖形化系統(tǒng)設計在國內的發(fā)展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開發(fā)符合特定要求的測控應用。

　　從2000年開始，該活動已經(jīng)成功舉辦了十四屆，得到廣大NI新老用戶的熱情支持，每年都收集到數(shù)量眾多的優(yōu)秀創(chuàng)新應用方案，使得大賽獲獎應用方案文集備受青睞?；顒右坏┱綀竺麉⑴c，即有獎勵。入圍決賽者更將有機會獲得豐厚的獎金、超值產(chǎn)品升級與培訓獎勵，以及免費參加 NIDays技術盛會的機會。決賽獲獎文章還將發(fā)表在權威期刊《儀器儀表學報》增刊上 。

　　您想贏得免費參加NI一年一度的行業(yè)盛會NIDays的機會嗎?您想與業(yè)內同行分享您利用NI平臺化解決方案開發(fā)出的創(chuàng)新及前沿應用嗎?您想通過我們的媒體宣傳渠道提升您個人在業(yè)內的知名度嗎?請不要錯過今年的征文競賽。歡迎您即刻報名參加!

　　有關比賽詳情，請訪問下列網(wǎng)址：http://china.ni.com/papercontest2015。