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X波段間接式頻率綜合器的設計

作者: 時間:2014-12-29 來源:網(wǎng)絡 收藏

  3.3 電路布局和電磁兼容設計

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/267446.htm

  (1)合理的電路布局

  通過詳細地分析、計算各部分電路中的頻率分量分布情況及其電平大小,為設計或采購適當?shù)脑骷峁┝撕侠淼囊罁?jù)。電路布局設計和結構設計同時進行,并充分考慮了電磁兼容性、可靠性、抗振性、散熱、工藝等方面的問題,以使電路設計布局合理,電路和結構達到良好地配合。

  (2)優(yōu)質電源和良好的電磁兼容設計

  在本頻綜器中,各有源電路需要低紋波的直流電源以及相關的控制信號。對電源/控制接口進來的電源采取良好的濾波措施(π型)、正電源轉換成負電源,以及對各種控制信號進行適當?shù)霓D換,都是本單元電路的任務。特別值得一提的是,由于系統(tǒng)只提供正電源,而本頻綜器中的微波開關等電路需要-5V電源才能正常工作,所以必須利用+15V轉換出-5V電源。由于采用的正負電壓轉換器中有一個頻率為5kHz左右的振蕩電路,其振蕩信號很容易從其輸入、輸出端(尤其是輸入端)串擾到其它電路,造成各路輸出信號近載頻雜散較大,所以必須在正負電源轉換器的輸入、輸出端增加穩(wěn)壓塊,起到穩(wěn)壓及隔離5kHz串擾信號的作用。

  另外必須在適當?shù)牡胤皆黾覧MI濾波器以防止各部分之間的信號相互串擾,保證雜波抑制性能。

  4 研究結果

  該頻綜器一次性通過了規(guī)定的各種環(huán)境試驗,技術協(xié)議規(guī)定的主要技術指標及測試結果見表1。

  表1 主要技術指標測試結果

  其中,LO1在靜態(tài)條件下的相噪測試曲線見圖3,主振信號在靜態(tài)條件下的相噪測試曲線見圖4。可見,由于受體積限制,我們沒有采用較復雜的混頻分頻式鎖相環(huán),產(chǎn)生的捷變頻二本振信號相噪已經(jīng)很低,經(jīng)上變頻后,由于PDRO的相噪比較好,混頻器等環(huán)節(jié)對相噪的惡化比較小。根據(jù)測試結果來看,各項指標均滿足要求,特別是采取晶振隔振等措施后,在振動條件下三個軸向的相位噪聲僅惡化10dB(@1kHz)左右,比不采取隔振措施要好許多,體現(xiàn)了我們較高的隔振設計水平[2]。頻綜器實物圖見圖5。

  

 

  圖3 靜態(tài)時一本振信號的相噪測試曲線

圖4 靜態(tài)時主振信號的相噪測試曲線

  

 

  圖5 實物圖

  5 結束語

  基于PLL的頻綜器,由于其潛在的出色性能、相對的簡單性和低成本而被普遍使用。本文主要介紹了針對惡劣的環(huán)境條件進行的技術攻關,充分發(fā)揮DAS和PLL的優(yōu)點,獲得了具有高穩(wěn)定、低相噪、低雜散和捷變頻等特性的全相參間接式頻綜器,并且全面達到環(huán)境適應性等方面的要求。

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