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TD-LTE芯片的射頻性能測試完成

作者: 時間:2010-09-26 來源:網(wǎng)絡 收藏

全球領先的測試設備制造商—科技有限公司(NYSE:A)與制造商—日前宣布,雙方已合作完成TD-LTE的數(shù)據(jù)卡的測試。本測試參考3GPPLTE規(guī)范及測試需求,基于的N5182A信號發(fā)生器及N9020A信號分析儀平臺完成。本次聯(lián)合測試遵循3GPP標準規(guī)定的第六章及第七章的芯片發(fā)射機及接收機的測試規(guī)范,這也是兩家公司一次成功的合作。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/260748.htm

科技中國區(qū)總經(jīng)理蘭濤提到:“安捷倫作為全球領先的測試設備制造商,一直致力于提供TD-SCDMA及TD-LTE的測試方案,安捷倫將與一起合作開發(fā)TD-LTE測試系統(tǒng)。在中國部署下一代移動通信網(wǎng)絡的過程中,安捷倫將扮演重要的角色,為中國移動通信事業(yè)做貢獻。”

創(chuàng)毅視訊的CEO張輝說:“創(chuàng)毅視訊作為TD-LTE業(yè)界率先推出基帶處理芯片和數(shù)據(jù)卡解決方案的中國公司,與安捷倫共同完成的聯(lián)合測試,具有里程碑的意義,這次合作也幫助我們完成對芯片的性能指標驗證。”

安捷倫的MXA,MXG及PXB系列信號分析儀,信號發(fā)生器及信道仿真儀可以支持最新的TDD/FDD-LTE標準測試,同時,X系列平臺還能支持多達20種以上的無線標準的測試,具體可參見www.agilent.com/find/X-series。

下一代無線通信技術,簡稱LTE,有時分復用TDD及頻分復用FDD兩個版本,TD-LTE將在在全球得到廣泛的部署。安捷倫為TDD和FDD兩種最新的無線制式提供了完整的測試解決方案。



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