背景描述

許多公司已經(jīng)利用具有極強能力和性能的發(fā)射機創(chuàng)造了大量輝煌成績。開發(fā)工作取得了新的突破，而他們的核心設計內(nèi)容是新的執(zhí)行標準。但某些情況下，在給發(fā)射機建模時，理解傳輸中的潛在測量標準會使工程師感到困惑。

飛思卡爾半導體在針對汽車、消耗裝置、工業(yè)和網(wǎng)絡化市場的嵌入式半導體設計和制造方面居世界領導地位，能發(fā)現(xiàn)新思路，并用Tektronix獨特的IConnect軟件將其與現(xiàn)有發(fā)射機建模方法相關聯(lián)。

飛思卡爾半導體的信號整合工程師Naresh Dhamija曾說：“ 有了IConnect軟件，我們能以不同的方式實現(xiàn)我們的方法，這真是太奇妙了。設計團隊現(xiàn)在能看到實際的Tx/Rx芯片終結電阻以及基板/封裝斷續(xù)情況?！彼€補充說：“用Iconnect軟件，可在測量的基礎上提取模型，不同于由模擬提取的純數(shù)學模型，這種模型更接近實際的硅。”

飛思卡爾半導體使用Tektronix IConnect軟件為發(fā)射機建模

在DSA8200 TDR平臺上運行時，IConnect軟件是一種效率高、使用方便且性價比高的解決方案，可在測量的基礎上對gigabit內(nèi)連鏈接和裝置進行性能演變，包括信號整合分析、阻抗、S參數(shù)以及可見圖形測試和故障隔離。

處理過程

圖1顯示了測量用的測試設置。這里，灰色區(qū)域內(nèi)的每個元件都是發(fā)射機的一部分，在帶有TDR測量探頭的DSA8200中用泰克IConnect軟件進行測試時，可作為裝置設備。

采用該設置，TDR和發(fā)射機產(chǎn)生振幅為100mV pk-pk的1010....（時鐘格式）作為到80E08采樣頭的輸入，并平均DSA8200中取得的300個采集點，從而過濾發(fā)射機的切換噪音。通過以上捕捉到的輸入，以Zo為參引，計算出Z線為50歐。在阻抗輪廓線上顯示最左邊為50歐，最右邊為42.5歐，即發(fā)射機的輸出阻抗，如圖3中IConnect捕捉到的所示。從TRD測量探頭一側看，為發(fā)射機的輸入阻抗。DUT上看到另一側-從發(fā)射側看為輸出阻抗。