系統(tǒng)主控部分為TMS320F28335，包括對外部ADC的控制，驅動電源的控制等。系統(tǒng)的整個工作過程為：采集到微弱模擬信號，在ADC的輸入前端放大，以滿足信號強度的大小。在放大器的后端用低通濾波去除系統(tǒng)中的噪聲，經(jīng)濾波器的信號再通過信號調理，將信號調節(jié)到ADC的輸入范圍內，即0～3 V。調理后的信號經(jīng)ADC信號采樣，采集到的數(shù)據(jù)通過DSP的分析和處理，得出電磁繼電器的時間參數(shù)，算法中采用了平滑處理、野值剔除及搜索區(qū)域逐步縮小等多種數(shù)據(jù)處理方法對波形數(shù)據(jù)進行分析。在此對數(shù)據(jù)的采集設計了兩種方案，一是采用DSP自帶的內部ADC，TMS320F28335系列DSP的A／D轉換模塊是個12位帶流水線的模數(shù)轉化器。并利用前端模擬多路復用開關(MUXs)、采樣／保持(S／H)電路、變換核心、電壓調節(jié)器以及其他模擬支持電路部分；另一種是采用凌力爾特公司的外部ADCLTC2366CS6，其是12位逐次逼近(SAR)型3線SPI／QSPI／Microwire兼容串行接口ADC，以高達3 Msample·s-1的速率輸出數(shù)據(jù)。LTC2366采用2．35～3．6 V單電源工作，在最高輸出速率時僅消耗7．2 mW，比最接近的同類產品節(jié)省20％。因其纖巧的占板面積和較低的功耗，適用于多種便攜式和空間受限的情況。
繼電器驅動電路是根據(jù)主控單元設定的試驗條件，通過控制調節(jié)DAC(TLV5618)模擬量的輸出，經(jīng)線圈驅動單元作為線圈驅動電源，使其輸出符合樣品線圈的驅動電壓，從而滿足不同型號電磁繼電器的線圈電壓要求。鍵盤調節(jié)模塊的功能是對測試條件的設定，即對驅動電壓的范圍、時間參數(shù)測試范圍以及觸點組數(shù)進行設定。當采集的數(shù)據(jù)量超過內部存儲量時，用SD卡來存儲時間參數(shù)數(shù)據(jù)。串口通信用來完成采集系統(tǒng)與上位機的通信，將采集到的數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔粰C進行分析處理。
3．2 主測試電路
測試回路如圖4所示，提供了繼電器可靠性壽命試驗中的負載、電源等試驗條件，使繼電器可在不同的試驗條件下進行可靠性壽命試驗。主控芯片DSP通過繼電器K1控制繼電器線圈的電壓接通與斷開。繼電器K1采用固態(tài)繼電器，固體繼電器吸合和釋放過程無觸點彈跳，因此系統(tǒng)選用固態(tài)繼電器作為控制受試通斷的電器。

4 系統(tǒng)軟件設計
主控單元采用TMS320F28335作為控制器。該芯片具有32位定點結構，并具有一個單精度(32位)IEEE754浮點單元(FPU)。這是一個高效的C／C++支持芯片，不僅可使用戶利用高級語言完成控制程序的設計，且還可實現(xiàn)復雜的數(shù)學算法。并可支持實時仿真以便于調試。該芯片具有256 kB×16位片內高速Flash存儲器、2個全雙工串行通信接口。該芯片功耗低、計算速度高、處理性能強，故被廣泛應用于汽車、工業(yè)控制以及容錯總線維護等領域。