安捷倫推出適用于電子測量的多功能臺式邊界掃描分析儀
—— 最新分析儀可提供從原型設計到批量生產的完整測試范圍
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安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出 Agilent x1149 邊界掃描分析儀。
本文引用地址：http://www.bjwjmy.cn/article/142127.htm邊界掃描已經成為工程師們在應對日益增加的測試接入挑戰(zhàn)時必不可少的技術。x1149 邊界掃描分析儀是一款功能廣泛、使用方便的電路板測試工具，能夠幫助用戶進行電路板設計和驗證，以及在生產過程中重復進行相同的 x1149 測試。
該分析儀提供了直觀的操作界面，您只需點擊一下鼠標便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關鍵特性包括：
- 覆蓋擴展技術和硅釘能力。
- 直接使用STAPL標準文件用于CPLD/FPGA的燒錄。
- 掃描路徑鏈接器(Scan Path Linker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。
- 完全兼容的器件支持 IEEE 1149.1 和 IEEE 1149.6 標準。
安捷倫測量系統事業(yè)部總經理 Boon Khim Tan 表示：“在 iNEMI 調查中，90% 的受訪者認為內置自測(BIST)功能是產品測試的關鍵;而 60%的電路板設計人員表示自己需要使用 BIST 對電路板的性能進行驗證。BIST 的接入方法主要是通過邊界掃描進行接入。”
“x1149 邊界掃描分析儀是安捷倫為滿足業(yè)界更多 BIST 需求而特別設計的。我們持續(xù)致力于為客戶提供最佳的投資回報，x1149 就是證明。它是一款多功能的儀器，可在從設計和驗證到批量生產的整個產品開發(fā)過程中使用。所有儀器均具有相同的測試可過渡移植性、可靠性和穩(wěn)定性，這是安捷倫解決方案的標志性優(yōu)勢。”
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