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首批基因芯片出生缺陷基因診斷技術(shù)落戶山西

作者: 時(shí)間:2012-11-23 來源:中電網(wǎng) 收藏

  山西省人口計(jì)生委科學(xué)研究所日前公布,首批出生缺陷技術(shù)落戶山西,該技術(shù)可在孕期診斷出400多種遺傳學(xué)疾病。據(jù)悉,目前這項(xiàng)技術(shù)對(duì)出生缺陷的檢出率可達(dá)28%,傳統(tǒng)的檢查方法只有5%~10%的檢出率。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/139271.htm

  據(jù)了解,此技術(shù)由美國(guó)臨床診斷中心主任李新民推廣至山西。此外,李新民還將推廣第三代測(cè)序技術(shù)。按照國(guó)際生物科學(xué)界的分類,第一代測(cè)序技術(shù)完成人的全基因組測(cè)序花費(fèi)了10年的時(shí)間(2000年前后的人類基因組計(jì)劃),第二代測(cè)序技術(shù)只需要10天時(shí)間,而第三代測(cè)序技術(shù)只需要1天時(shí)間,甚至更短。



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