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非易失性半導體存儲器的相變機制

作者:Roberto Bez,恒憶研發(fā)中心技術開發(fā)部研究員 時間:2009-12-16 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  PCM被業(yè)界看好是因為兩大原因。第一原因是功能性增強:這些改進之處包括更短的隨機訪存時間、更快的讀寫速度,以及直接寫入、位粒度和高耐讀寫能力。整合今天的閃存和快速動態(tài)隨機訪問(DRAM)的部分特性,PCM技術將的功能提升到一個新的水平,最終不僅可以取代閃存,還能替代DRAM的部分用處,如常用操作碼保存和高性能磁盤緩存 (圖2) 。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/101459.htm

  存儲單元小和制造工藝可以升級是讓人們看好PCM的第二大理由。相變物理性質顯示制程有望升級到5 nm節(jié)點以下,有可能把閃存確立的成本降低和密度提高的速度延續(xù)到下一個十年期。

  采用一項標準CMOS技術整合PCM概念、存儲單元結構及陣列和芯片測試載具的方案已通過廣泛的評估和論證。128 Mb高密度相變存儲器原型經(jīng)過90 nm制程論證,測試表明性能和可靠性良好。根據(jù)目前已取得的制程整合結果和對PCM整合細節(jié)理解水平,下一個開發(fā)階段將是采用升級技術制造千兆位(Gbit)級別的PCM存儲器。

  【參考文獻】

  1. G.Atwood and R.Bez, “Current status of chalcogenide phase-change memory”, Device Research Conference (DRC), Santa Barbara (CA), June 20-22, 2005.

  2. R.Bez and G.Atwood, “Chalcogenide Phase Change Memory: Scalable for the Next Decade?” 21st IEEE Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop, p.12, Monterey (Ca), 2006.

  3. F.Pellizzer, A.Benvenuti, B.Gleixner, Y.Kim, B.Johmson, M.Magistretti, T.Marangon, A.Pirovano, R.Bez, G.Atwood, A 90nm Phase-Change Memory Technology for Stand-Alone Non-Volatile Memory Applications, Symp. on VLSI Tech., pp. 122-123, 2006.

  4. A.Pirovano, F.Pellizzer, I.Tortorelli, R.Harrigan, M.Magistretti, P.Petruzza, E.Varesi, D.Erbetta, T.Marangon, F.Bedeschi, R.Fackenthal, G.Atwood and R.Bez, Self-Aligned µTrench Phase-Change Memory Cell Architecture for 90nm Technology and Beyond, Proc. ESSDERC 07, pp. 222-225, 2007.

  5. J.E.Brewer, G.Atwood, R.Bez, "Phase change memories" in Nonvolatile Memory Technologies with Emphasis on Flash edited by J.E.Brewer and M.Gill, IEEE Press Series on Microelectronics Systems, Wiley-Interscience, pag.707-728, 2007.

  6. R.Bez, R.J.Gleixner, F.Pellizzer, A.Pirovano, G.Atwood “Phase Change Memory Cell Concepts and Designs” in Phase Change Materials – Science and Applications edited by S.Roux and M.Wuttig, Springer Verlag, ISBN: 978-0-387-84873-0 e-ISBN: 978-0-387-84874-7, pag.355-380, 2008.


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