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利用NI LabVIEW優(yōu)化多核處理器環(huán)境下的自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用

便攜式數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)采集系統(tǒng)（PDDAS）使用了LabVIEW實(shí)時(shí)模塊和PXI，以控制風(fēng)洞測(cè)試和采集記錄來(lái)自128個(gè)不同通道的空氣...
關(guān)鍵字： LabVIEW F-35戰(zhàn)斗機(jī) 測(cè)試成本

　　軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測(cè)試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況，即雇傭的軟件工程師比硬件工程師多。為了應(yīng)對(duì)軟件開發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開發(fā)周期的縮短，當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧，以確保他們?cè)谲浖矫娴耐度肽?夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上， 2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試

LabView嵌入式開發(fā)模塊五大技術(shù)要點(diǎn),無(wú)論使用什么設(shè)計(jì)語(yǔ)言，不良的編程技術(shù)都會(huì)給一個(gè)應(yīng)用的性能帶來(lái)負(fù)面影響，對(duì)一個(gè)嵌入式應(yīng)用尤其如此。盡管對(duì)于絕大部分應(yīng)用來(lái)說(shuō)，高效率的編程技術(shù)是重要的，但對(duì)于嵌入式應(yīng)用所工作的資源極度缺乏的環(huán)境，則要求對(duì)
關(guān)鍵字：技術(shù) 要點(diǎn) 五大模塊嵌入式開發(fā) LabView

當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測(cè)試儀器，所以產(chǎn)品的測(cè)試成本過(guò)高，無(wú)法與其較低的制造成本保持一致。
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試系統(tǒng) DUT

軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。
關(guān)鍵字： NI 系統(tǒng)軟件棧

構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測(cè)試解決方案，滿足半導(dǎo)體芯片測(cè)試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)而升級(jí)整個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室。
關(guān)鍵字： NI ST-Ericsson

我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來(lái)完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè)，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào)，使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng)，使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池，揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
關(guān)鍵字： NI LCD PXI

美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布4款全新的NI Single-Board RIO板級(jí)嵌入式設(shè)備，配備了實(shí)時(shí)處理器、Spartan-6現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)、模擬和數(shù)字I / O以及更多的內(nèi)置外設(shè)，可用于實(shí)現(xiàn)自定制嵌入式控制和監(jiān)控應(yīng)用。
關(guān)鍵字： NI 嵌入式處理器

引言　　傳統(tǒng)的振動(dòng)分析儀器具有結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積大、操作不方便等特點(diǎn);而基于單片機(jī)的振動(dòng)采集分析儀雖然體積較小，但是分析能力有限，往往不能夠滿足振動(dòng)分析與診斷的特殊要求。　　本文所設(shè)計(jì)的振動(dòng)分析儀以Compact
關(guān)鍵字： Labview 便攜式振動(dòng)分析儀

引言　　LabVIEW有兩個(gè)基本窗口，前面板窗口和流程圖窗口，前面板窗口用于設(shè)置控制對(duì)象和顯示對(duì)象，相當(dāng)于常規(guī)儀器的顯示屏幕或指針;流程圖窗口用于編寫和顯示程序的圖形源代碼，相當(dāng)于語(yǔ)言編程中的語(yǔ)句，它由各種能
關(guān)鍵字： LABVIEW 信號(hào) 幅值求取系統(tǒng)

為了解決基于LabVIEWFPGA模塊的DMAFIFO深度設(shè)定不當(dāng)帶來(lái)的數(shù)據(jù)不連續(xù)問題，結(jié)合LabVIEWFPGA的編程特點(diǎn)和DMA FIFO的工作原理，提出了一種設(shè)定FIFO深度的方法。對(duì)FIFO不同深度的實(shí)驗(yàn)表明，采用該方法設(shè)定的FIFO深度能夠
關(guān)鍵字： LabVIEW FPGA FIFO 模塊