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主CMOS為鎂光合作產(chǎn)品 尼康V1全面拆解

- 半導(dǎo)體行業(yè)網(wǎng)站Chipworks于近日對(duì)尼康新出品的微單相機(jī)V1做了非常詳細(xì)而且徹底的拆解,在這次拆解過(guò)程中我們也發(fā)現(xiàn)了不少秘密,首當(dāng)其沖的就是主CMOS上發(fā)現(xiàn)了Aptina的痕跡。Aptina是美國(guó)半導(dǎo)體企業(yè)鎂光旗下的感光元件生產(chǎn)廠商,也推出過(guò)APS-C規(guī)格的16M像素CMOS。這也是首次明確發(fā)現(xiàn)尼康與Aptina合作,還是讓我們先來(lái)看看圖片吧!
- 關(guān)鍵字: 尼康 V1 CMOS
CMOS電路IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)
- 摘要:針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測(cè),提出了一種簡(jiǎn)單的IDDQ靜態(tài)電流測(cè)試方法,并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測(cè)試電路對(duì)CMOS被測(cè)電路進(jìn)行檢測(cè),通過(guò)觀察測(cè)試電路輸出的高低電平可知被測(cè)電路是否存在物理缺
- 關(guān)鍵字: 電路設(shè)計(jì) 測(cè)試 IDDQ 電路 CMOS
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