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門級 文章 最新資訊

應對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴展解決方案

  • 功能驗證是電子設計人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無論是設計團隊還是驗證團隊，都將超過50%的時間用在糾錯上，因此這一領域的技術進展將對縮短產品上市時間產生重大影響。本文探討基于斷言的技術和改進的糾錯方法，以及為
  • 關鍵字： 門級  方案  系統(tǒng)級  芯片驗證    
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