電子元件老化——電壓基準(zhǔn)中的長期漂移（LTD）

• 了解制造商如何表征和估計(jì)用于電子元件老化預(yù)測的電壓參考的長期漂移（LTD）。雖然電壓參考的輸出在理想情況下應(yīng)該與溫度和時(shí)間無關(guān)，但現(xiàn)實(shí)世界的電壓參考可能會受到溫度和老化的影響?？紤]到這一點(diǎn)，本文將討論制造商如何表征和估計(jì)電壓參考的LTD。為了更好地為本文做好準(zhǔn)備，閱讀之前的文章以了解石英晶體、電阻器和放大器的老化效應(yīng)可能很重要。電壓基準(zhǔn)的老化效應(yīng)總的來說，電壓基準(zhǔn)的輸出會隨時(shí)間而變化。通常，半導(dǎo)體材料的摻雜水平和封裝材料施加到電壓參考管芯的物理應(yīng)力會隨時(shí)間變化，導(dǎo)致電壓參考輸出中的LTD。電壓參考的LTD
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