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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 運算放大器

什么原因毀掉了運算放大器?

  • 查明造成半導體器件損壞的電過載(EOS)事件的根源是有難度的,而EOS事件出現(xiàn)無規(guī)律性時難度會更大。為闡明如何才能對EOS事件追根溯源,在此用一個實例說明我們是如何幫助一位用戶辯認兩種運算放大器(op amps)的失效原因的。初步、檢查第一種運算放大器OP1遭到一個大型的EOS事件,其許多電路部件受到損壞。第二種運算放大器OP2的情形是EOS事件只損壞了一只薄膜電阻器。兩個運算放大器都有一個或多個引腳無法進行連續(xù)性測試—這是器件失效的第一個征兆。此外,OP1的其它幾個引腳呈現(xiàn)功能退化。無論OP1還是OP2
  • 關(guān)鍵字: 放大器  設(shè)計應用  運算放大器  模擬IC  電源  
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運算放大器介紹

目錄 歷史 原理 類型 主要參數(shù) 應用   運算放大器(常簡稱為“運放”)是具有很高放大倍數(shù)的電路單元。在實際電路中,通常結(jié)合反饋網(wǎng)絡(luò)共同組成某種功能模塊。由于早期應用于模擬計算機中,用以實現(xiàn)數(shù)學運算,故得名“運算放大器”,此名稱一直延續(xù)至今。運放是一個從功能的角度命名的電路單元,可以由分立的器件實現(xiàn),也可以實現(xiàn)在半導體芯片當中。隨著半導體技術(shù)的發(fā)展,如今絕大部分的運 [ 查看詳細 ]

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