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設計和測試 文章 最新資訊

在射頻產品設計中將仿真與測量相結合

  • 縮短產品開發(fā)周期一直以來都是研發(fā)機構的主要目標。減少開發(fā)時間的方法之一是將設計和測試工作同步進行——即通常遵循V型圖產品開發(fā)模式。這種方法已經應用于汽車業(yè)和航空業(yè)。
  • 關鍵字： NI  EDA  設計和測試  
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設計和測試介紹

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