新型功率器件的老化特性：HTOL高溫工況老化測試

• _____隨著技術(shù)的不斷進步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而，這些器件在長期連續(xù)使用后會出現(xiàn)老化現(xiàn)象，導(dǎo)致性能退化。如何在短時間內(nèi)準(zhǔn)確評估這些器件的老化特性，成為行業(yè)關(guān)注的焦點。目前，針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中，JEDEC制定的老化測試標(biāo)準(zhǔn)（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測試）主要針對傳統(tǒng)的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件，AQG-324標(biāo)準(zhǔn)進一步要求增加動態(tài)老化測試，如動態(tài)柵偏和動態(tài)反偏測試。
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