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新型功率器件的老化特性:HTOL高溫工況老化測試
- _____隨著技術(shù)的不斷進步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,這些器件在長期連續(xù)使用后會出現(xiàn)老化現(xiàn)象,導(dǎo)致性能退化。如何在短時間內(nèi)準(zhǔn)確評估這些器件的老化特性,成為行業(yè)關(guān)注的焦點。目前,針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中,JEDEC制定的老化測試標(biāo)準(zhǔn)(如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測試)主要針對傳統(tǒng)的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件,AQG-324標(biāo)準(zhǔn)進一步要求增加動態(tài)老化測試,如動態(tài)柵偏和動態(tài)反偏測試。
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