浸入式冷卻（第1部分）：重新定義可靠性標(biāo)準(zhǔn)

• 由于 AI 和高性能計(jì)算 （HPC） 的興起，數(shù)據(jù)中心工作負(fù)載繼續(xù)激增，反過來，傳統(tǒng)的風(fēng)冷方法正在達(dá)到其實(shí)際極限。隨著熱負(fù)荷的增加和密度要求的擴(kuò)大，數(shù)據(jù)中心運(yùn)營商正在尋找新的熱量管理方法。浸入式冷卻已成為一條前景廣闊的發(fā)展道路。然而，這種轉(zhuǎn)變暴露了該行業(yè)在定義和測試組件可靠性方面的巨大差距。為風(fēng)冷環(huán)境制定的標(biāo)準(zhǔn)從來都不是為了預(yù)測材料在完全浸沒在介電流體中時(shí)的行為。鑒于架構(gòu)設(shè)計(jì)和性能的新要求，老化模型、故障模式，甚至有關(guān)組件耐用性的基本假設(shè)等關(guān)鍵因素都需要重新思考。這種演變正在重塑數(shù)據(jù)中心運(yùn)營商評估組件可靠
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