測試要素 文章 進入測試要素技術(shù)社區(qū)
SoC設(shè)計過程中需要考慮的關(guān)鍵測試要素
- 摘要：現(xiàn)代大批量SoC產(chǎn)品設(shè)計要求重點關(guān)注可測性設(shè)計(DFT)和可制造性設(shè)計(DFM)問題。本文試圖通過具體的案例...
- 關(guān)鍵字： SoC設(shè)計 測試要素
| 共1條 1/1 1 |
測試要素介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試要素!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試要素的理解，并與今后在此搜索測試要素的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試要素的理解，并與今后在此搜索測試要素的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473