測試測量 文章 進入測試測量技術(shù)社區(qū)
吉時利發(fā)布基于LINUX的參數(shù)測試系統(tǒng)
- 美國吉時利(Keithley)儀器公司日前發(fā)布關(guān)于其S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)的一組升級功能。其最主要升級是在每套測試系統(tǒng)中的嵌入式控制電腦上移植Linux操作系統(tǒng)(OS)。本項升級為其控制電腦提供更穩(wěn)定的OS和更長的服務(wù)壽命,減少了用戶升級新工作站和軟硬件資源的開銷。此外,此次固件升級相比原來基于UNIX的系統(tǒng)具有更高的測試產(chǎn)能。新軟件授權(quán)(license)方法采用USB棒作為每套測試器的硬件鑰匙,通過在不同工作站間的遷移縮短維護時間。 吉時利推出的該款采用Linux控制器的參數(shù)測試系統(tǒng)迎合了當(dāng)
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安捷倫發(fā)布 U2000 系列基于USB的功率傳感器
- 安捷倫科技最新發(fā)布的 Agilent U2000 系列基于USB的功率傳感器,與典型功率計和類似的功率探測解決方案相比,重量更輕,并有更高的性價比。由于使用這種功率傳感器進行測量可不需要功率計或額外的硬件模塊,因此能節(jié)省工作臺空間,也使現(xiàn)場測試工作更簡單、更容易。 U2000系列功率傳感器可與各種 Agilent 信號源、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀配合使用,從而使這些儀器具有更精確的平均功率測試能力。除了USB設(shè)備即插即用的連通性所提供的簡便、快速的設(shè)置外,U2000系列功率傳感器還通過與組合眾多功
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科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT,用于測試新興的高速計算和消費應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出再次強化了科利登市場領(lǐng)先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設(shè)備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案,在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號,以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍,可為制造商提供突破性的可測性設(shè)計(DFT)方法,助其顯
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基于計算機的機床測試系統(tǒng)
- 在工業(yè)生產(chǎn)測試過程中,經(jīng)常要對溫度、流量、壓力等模擬量進行采集,對繼電器、接觸器等開關(guān)量進行控制,此外還有步進電機和伺服電機進行精確的位移控制。開發(fā)一種基于計算機的機床測試系統(tǒng),把各種控制量集成在一起構(gòu)成閉環(huán)控制系統(tǒng)很有必要。本文以一臺計算機為主控制器,采用Windows風(fēng)格接口軟件,計算和測試速度快,信息處理能力強,系統(tǒng)集成度高,工作界面友好,操作方便,實現(xiàn)了多參數(shù)測試過程自動化,提高了測試效率和準(zhǔn)確性。 系統(tǒng)主要功能及特點 系統(tǒng)以對機床性能影響大的參數(shù)集成測試為主要目的,具有以下功能
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基于AD8302芯片的新的幅相測量系統(tǒng)
- 引 言 傳統(tǒng)的幅度、相位差、阻抗測量需要采用多個中小規(guī)模集成電路,不僅電路復(fù)雜,測量精度低,而且適用的頻率范圍窄,只能測量低頻或中頻信號。本文介紹利用美國ADI公司最近推出的AD8302芯片測量RF/IF幅度和相位差并計算阻抗。此芯片是測量幅度、相位差的首款單片集成電路,可廣泛用于GSM(全球移動通信系統(tǒng)),電力系統(tǒng)的阻波器、結(jié)合濾波器等領(lǐng)域。 1 AD8302性能特點 AD8302內(nèi)含兩個精密匹配寬帶對數(shù)檢波器、一個相位檢波器、輸出放大器組、一個偏置單元和一個輸出參考電壓緩沖器等,能同時
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中國移動開始測試TD手機 中興三星率先過關(guān)
- 知情人士獨家透露,備受關(guān)注的TD-SCDMA商用進程出現(xiàn)全新進展,中國移動正組織20多款TD-SCDMA手機在8個奧運城市進行測試,測試結(jié)果將直接影響9至10月的終端采購,目前,中興通訊、三星、LG等已在一些重要指標(biāo)上率先過關(guān),一些國產(chǎn)品牌手機還需努力。 中國移動開始手機測試 據(jù)悉,近日,中國移動在結(jié)束了TD設(shè)備采購后,已經(jīng)開始動手測試TD終端的商用效果,該輪終端測試非常重要,結(jié)果將直接影響TD-SCDMA的商用進程,號稱TD商用前“最后一公里”沖刺測試。
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KLA-Tencor 發(fā)布最新 HRP-350系統(tǒng)
- KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350,使測量能力擴展至 45 納米半導(dǎo)體器件。這個新設(shè)備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺,從而提高了測量靈敏度,并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細(xì)微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外,該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度,因而能在多種關(guān)鍵性晶體管和互連應(yīng)用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導(dǎo)體器件的更新?lián)Q代,在重要的蝕刻和化學(xué)機械拋光工藝中,形貌控制要求也越發(fā)嚴(yán)格。我們的客戶需要一
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意法半導(dǎo)體便攜設(shè)備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊、節(jié)能降耗
- 意法半導(dǎo)體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計產(chǎn)品家族增加一個新的解決方案,新產(chǎn)品LIS244AL動作傳感器在電路板占據(jù)一個面積很小的呈正方形位置,功耗極低,特別適合電池供電的便攜應(yīng)用,如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個單封裝內(nèi)集成了一個可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個CMOS接口芯片,該接口芯片提供兩個同步實時模擬輸出:一個是側(cè)向(橫向)運動輸出信號,另一個是前后(縱向)運動輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值,需要
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ADI公司發(fā)布用于短距無線裝置開發(fā)的新RF設(shè)計工具
- 美國模擬器件公司的 SRD Design Studio是針對短距裝置(short range device)無線連接設(shè)計和仿真的軟件工具。SRD Design Studio可以從ADI公司的網(wǎng)站上免費獲得,用于幫助用戶對基于ADI公司的ADF70xx系列SRD發(fā)射機和收發(fā)機的短距無線通信裝置進行評估、設(shè)計和故障排查。ADF70xx產(chǎn)品針對自動抄表、工業(yè)自動化、安全保衛(wèi)、家庭自動化、遙控以及其他低功率
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基于磁盤陣列的全數(shù)字遙測記錄系統(tǒng)的設(shè)計
- 引 言 我國遙測記錄設(shè)備經(jīng)歷了倍密度磁帶機和旋轉(zhuǎn)頭磁帶機兩代產(chǎn)品,目前仍在使用。從記錄原理上說他們皆屬于模擬記錄設(shè)備,在長期使用當(dāng)中,已暴露出諸多缺陷: (1)磁帶耗材依賴進口,價格昂貴且記錄容量小、重復(fù)使用率低、數(shù)據(jù)保存時間短。 (2)磁頭和機械運帶機構(gòu)屬精密加工器件,調(diào)校過程相當(dāng)復(fù)雜,長期使用磨損嚴(yán)重,記錄性能顯著惡化,給設(shè)備維護帶來極大不便。 隨著計算機硬盤制造技術(shù)的飛速發(fā)展和數(shù)字存儲技術(shù)的問世及不斷應(yīng)用,采用大容量高速硬盤記錄模擬遙測信號的數(shù)字化
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ST便攜設(shè)備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊節(jié)能降耗
- 意法半導(dǎo)體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計產(chǎn)品家族增加一個新的解決方案,新產(chǎn)品LIS244AL動作傳感器在電路板占據(jù)一個面積很小的呈正方形位置,功耗極低,特別適合電池供電的便攜應(yīng)用,如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個單封裝內(nèi)集成了一個可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個CMOS接口芯片,該接口芯片提供兩個同步實時模擬輸出:一個是側(cè)向(橫向)運動輸出信號,另一個是前后(縱向)運動輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值,需要的功耗非常低,這在電池供電的便
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基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究
- 引 言 現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設(shè)計調(diào)試和檢驗變成設(shè)計中最困難的一個流程。另一方面,當(dāng)前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線,除了提供高速并行總線接口外,正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展,F(xiàn)PGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps,高速I/O的測試和驗證更成為傳統(tǒng)專注于FPG
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KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350
- KLA-Tencor日前發(fā)布業(yè)界最先進的高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350,使測量能力擴展至 45 納米半導(dǎo)體器件。這個新設(shè)備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺,從而提高了測量靈敏度,并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細(xì)微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外,該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度,因而能在多種關(guān)鍵性晶體管和互連應(yīng)用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導(dǎo)體器件的更新?lián)Q代,在重要的蝕刻和化學(xué)機械拋光工藝中,形貌控制要求也越發(fā)嚴(yán)格。我們的客戶需要一種單一系統(tǒng)解決方案,既可支持影響良率的納米級應(yīng)
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tektronix發(fā)布HDMI一致性測試軟件1.3b版
- 泰克公司日前宣布,其TDSHT3軟件已經(jīng)升級,支持HDMI一致性測試規(guī)范1.3b版。泰克TDSHT3軟件現(xiàn)在支持最新CTS1.3b文件中規(guī)定的所有HDMI一致性測試要求。通過現(xiàn)在提供的這一升級軟件,泰克為客戶執(zhí)行HDMI 1.3b一致性測試提供了最完整、最經(jīng)濟的測試套件。 泰克現(xiàn)在支持使用實時示波器、取樣示波器、信號發(fā)生器、差分探頭和測試夾具,根據(jù)CTS 1.3b規(guī)范執(zhí)行物理層一致性測試。TDSHT3是裝在泰克示波器上的一種HDMI一致性測試軟
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測試測量介紹
電子測試測量儀器:示波器(數(shù)字、模擬、手持式)、信號發(fā)生器(任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻)、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器:光時域反射儀(OTDR)、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
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