抖動(dòng)(jitter)測量 文章
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- IBM的3D超導(dǎo)量子比特裝置,一個(gè)量子比特(長度大約在1毫米左右)懸浮在小型藍(lán)寶石芯片的空腔中央。這個(gè)空腔由裝置的兩半閉合后形成,測量通過向連接器傳遞微波信號(hào)進(jìn)行。空腔的寬度大約在1.5英寸(約合3.81 厘米)左右。
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超級(jí) 量子 計(jì)算機(jī) 測量 進(jìn)行 微波 信號(hào) 通過
- 如圖所示,用一個(gè)具有容性響應(yīng)的傳感器和一只PIC微控制器(MCU)就可以構(gòu)成一個(gè)相對(duì)濕度計(jì)。其中Humirel公司提供的HS1101型傳感器的電容取值范圍為162 ~202pF。使用一個(gè)TLC555 CMOS 定時(shí)器作為振蕩器,完成從電容到頻率
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相對(duì)濕度 測量 MCU PIC
- 摘要:電壓、電流的測量是工程實(shí)踐中最基本的測量內(nèi)容之一,由于電壓表、電流表的內(nèi)阻是客觀存在的,必然給測量帶來誤差。為了減小甚至消除這種誤差,可以改進(jìn)測量方法,補(bǔ)償測量法就是其中重要的一種。文中對(duì)有源二
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補(bǔ)償 測量 電壓 電流
- 在許多的電子產(chǎn)品中都有使用串行閃存的需求。串行閃存具有較簡單的控制程序和電路以及可靠的儲(chǔ)存能力,因而倍受青睞。因此,它常被電子產(chǎn)品用來存儲(chǔ)較關(guān)鍵的啟動(dòng)程序或者系統(tǒng)設(shè)置數(shù)據(jù)。每當(dāng)系統(tǒng)激活時(shí),串行閃存就會(huì)
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邏輯分析儀 串行閃存 測量
- 摘要:空氣中的聲速隨著溫度的變化而變化。開發(fā)了基于單片機(jī)的聲速隨溫度變化的測量系統(tǒng),該系統(tǒng)利用80C196KC的高速輸出和輸入功能,記錄下?lián)P聲器發(fā)出聲波和麥克風(fēng)接受聲波的時(shí)間,并利用二極管作為溫度傳感器測量空
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測量 系統(tǒng) 變化 溫度 單片機(jī) 聲速 基于
- 雪崩光電二極管(APD)是一種高靈敏度、高速度的光電二極管。施加反向電壓時(shí),能啟動(dòng)其內(nèi)部的增益機(jī)構(gòu)。APD的增益可以由反向偏置電壓的幅度來控制。反向偏置電壓越大增益就越高。APD在電場強(qiáng)度的作用下工作,光電流的
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雪崩 光電二極管 電流 測量
- 使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試 S參數(shù)通常是對(duì)被測器件施加連續(xù)波激勵(lì)來完成的,然而在某些情況下, S參數(shù)的測量必須使用脈沖激勵(lì)。例如,在測試諸如功率晶體管之類的非熱耦合被測器件的 S參數(shù)時(shí),連續(xù)波激勵(lì)所積累的熱量可
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技術(shù) 跟蹤 測量 參數(shù) 脈沖
- 由二個(gè)頻率產(chǎn)生的三階互調(diào)失真是現(xiàn)代通信系統(tǒng)中普遍存在的問題。當(dāng)系統(tǒng)中二個(gè)(或更多)的載頻信號(hào)通過一個(gè)無源器件,如天線、電纜、濾波器和雙工器時(shí),由于其機(jī)械接觸的不可靠,虛焊和表面氧化等原因,在不同材料的
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測量 失真 頻段 發(fā)射 WCDMA
- 軟誤差是半導(dǎo)體器件中無法有意再生的“干擾”(即數(shù)據(jù)丟失)。它是由那些不受設(shè)計(jì)師控制的外部因素所引起的,包...
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測量 存儲(chǔ)器 誤差
- 摘要:本文主要介紹由光纖傳感器與基于CAN總線網(wǎng)絡(luò)組成本的油庫油罐液位、溫度信號(hào)實(shí)時(shí)監(jiān)測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案,由此分析出光纖傳感器在測量技術(shù)中的應(yīng)用以及光纖液位傳感器、光纖溫度傳感器及光纖液位報(bào)警器佳結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與
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應(yīng)用 技術(shù) 測量 傳感器 光纖
- 摘要:簡要介紹了AD698的工作原理,對(duì)AD698在RVDT傳感器測量中的具體應(yīng)用進(jìn)行了研究。根據(jù)傳感器使用要求,進(jìn)行了詳細(xì)的參數(shù)分析和電路設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)從電源、信號(hào)濾波、輸入輸出范圍、信號(hào)傳輸連接各方面采取了提高測量
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應(yīng)用 測量 傳感器 RVDT AD698
- 隨著寬帶通信系統(tǒng)和其它高性能RF技術(shù)不斷發(fā)展,測量系統(tǒng)也必須與之保持同步。過去,頻譜分析對(duì)于大多數(shù)一般性應(yīng)用來講己經(jīng)足夠,矢量分析只用于更為特殊的測量中,如國防和信號(hào)監(jiān)視場合。但矢量分析對(duì)測量快速移動(dòng)的
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有效 測量 進(jìn)行 RF 矢量 分析 基于
- 在如今的半導(dǎo)體領(lǐng)域,要確定集成電路器件的功能性是否滿足要求,往往需要對(duì)其進(jìn)行多種電測試。其中一項(xiàng)就是測量器件的時(shí)序,這時(shí)必須用到測時(shí)儀(TMU)。什么是測時(shí)儀?測時(shí)儀是一種半導(dǎo)體自動(dòng)測試設(shè)備(ATE),負(fù)責(zé)測量
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測時(shí)儀 測量 交流信號(hào) 直流偏移
- 電阻溫度探測器(RTD)模塊進(jìn)一步擴(kuò)展了測量性能,能夠提供更高的溫度精度。
工程師可使用NI SC Express 產(chǎn)品家族中的NI PXIe-4357 RTD模塊,PXI以及LabVIEW實(shí)時(shí)模塊來創(chuàng)建穩(wěn)定的傳感器測量系統(tǒng),其通道數(shù)可從十?dāng)U展至數(shù)千
SC Express將數(shù)據(jù)采集與信號(hào)調(diào)理集成在一個(gè)PXI模塊中,從而實(shí)現(xiàn)高性能、穩(wěn)定的傳感器測量,以及速度和精度的優(yōu)化
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NI 測量 SC Express
- HDD中需精心設(shè)計(jì)的鏈路是位于前置放大器和讀/寫磁頭組件之間的互連。該互連是確保HDD以多倍Gb/s的速率讀寫大量數(shù)據(jù)關(guān)鍵組件,但是,諸如交調(diào)失真、過沖和下沖等影響常會(huì)降低互連的性能,本文簡要介紹如何利用時(shí)域反射
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測量 磁盤 測試 驅(qū)動(dòng)器
抖動(dòng)(jitter)測量介紹
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