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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 嵌入式存儲器

嵌入式存儲器的過去與現(xiàn)在

  • 近期臺積電技術(shù)長孫元成在其自家技術(shù)論壇中，首次揭露臺積電研發(fā)多年的eMRAM(嵌入式磁阻式隨機存取存儲)和eRRAM(嵌入式電阻式存儲器)將分別訂于明后年
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嵌入式存儲器的測試及可測性設(shè)計

  • 本文對嵌入式存儲器的測試及可測性設(shè)計進行研究總結(jié)，為我國存儲器測試的研究以及集成電路測試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展奠定堅實的技術(shù)基礎(chǔ)。
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IoT商機滾滾　嵌入式存儲器需求暢旺

  • 物聯(lián)網(wǎng)(IoT)發(fā)展熱潮將推升嵌入式記憶體需求。行動裝置、汽車、工業(yè)等機器對機器(M2M)裝置對固態(tài)硬碟需求持續(xù)攀升，加上嵌入式系統(tǒng)因應(yīng)巨量資料(Big
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ASIC和SoC設(shè)計中嵌入式存儲器的優(yōu)化

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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嵌入式存儲器的測試及可測性設(shè)計研究

  • 引言 近年來，消費者對電子產(chǎn)品的更高性能和更小尺寸的要求持續(xù)推動著SoC（系統(tǒng)級芯片）產(chǎn)品集成水平的提高，并促使其具有更多的功能和更好的性能。要繼續(xù)推動這種無止境的需求以及繼續(xù)解決器件集成領(lǐng)域的挑戰(zhàn)，最
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測試嵌入式存儲器的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)

  • 隨著SoC設(shè)計向存儲器比例大于邏輯部分比例的方向發(fā)展，高質(zhì)量的存儲器測試策略顯得尤為重要。存儲器內(nèi)置自測試(BIST)技術(shù)以合理的面積開銷來對單個嵌入式存儲器進行徹底的測試，可提高DPM、產(chǎn)品質(zhì)量及良品率，因而正
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通過嵌入式存儲器測試和修復(fù)解決良品率問題

  • 關(guān)鍵字：存儲器測試系統(tǒng)級芯片(SoC)中存儲器容量的增加以及嵌入式存儲器支配整個裸片良品率的事實，使良品率設(shè)計(DFY)面臨日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)，特別是在新興的90nm和65nm半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。由于嵌入式存儲器容易產(chǎn)生較高的
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飛索轉(zhuǎn)型求生存　鎖定嵌入式存儲器

  • 　　NOR Flash產(chǎn)業(yè)昔日霸主飛索(Spansion)在脫離破產(chǎn)保護后，積極進行大反撲，除了快速處理掉2座晶圓廠賣給德州儀器(TI)外，在產(chǎn)品在線也做大幅度的調(diào)整，除鞏固車用NOR Flash產(chǎn)品線之外，也投入相當(dāng)大資源在內(nèi)嵌式NOR Flash領(lǐng)域，這部分一直是飛索最擅長同時也是成長性最高的一塊市場，包括工業(yè)領(lǐng)域、個人計算機(PC)等市場，未來內(nèi)嵌式NOR Flash產(chǎn)品的成長性相當(dāng)強勁。 　　飛索表示，除了已耕耘20年的車用NOR Flash產(chǎn)品線外，飛索也會把大量資源放在內(nèi)嵌式產(chǎn)品上，這會是未
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華虹NEC兩項新技術(shù)榮獲2009年度中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)獎

  • 　　2010年中國半導(dǎo)體市場年會于2010年3月9日至10日在上海召開。大會公布了由中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會、中國電子材料行業(yè)協(xié)會、中國電子專用設(shè)備工業(yè)協(xié)會、中國電子報等單位共同評選出的 “第四屆(2009年度)中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)”獲獎結(jié)果，上海華虹NEC電子有限公司(以下簡稱“華虹NEC”)的“0.13微米SONOS嵌入式存儲器工藝技術(shù)”和“芯片超級同測技術(shù)(SCT)”兩個項目分獲殊榮。 　　華虹NEC的0
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華虹NEC參加2010中國半導(dǎo)體市場年會

  • 　　以“洞悉變革趨勢，把握復(fù)蘇契機”為主題的2010年中國半導(dǎo)體市場年會于2010年3月9日至10日在上海召開。大會圍繞“經(jīng)濟回暖與市場復(fù)蘇”、“產(chǎn)業(yè)變革與企業(yè)創(chuàng)新”、“兩化融合與新興市場”和“新型顯示與物聯(lián)網(wǎng)”等主要議題進行了深入探討。上海華虹NEC電子有限公司(“華虹NEC”)總裁兼首席執(zhí)行官邱慈云博士和市場副總裁高峰先生應(yīng)邀出席了此次會議。 　　本次年會還
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一種改進的嵌入式存儲器測試算法

  • 基于一種適合于測試靜態(tài)簡化故障的March SS算法，提出了一種改進的嵌入式隨機存取存儲器測試算法－March SSE算法。
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嵌入式存儲器的設(shè)計方法和策略

  • 本文介紹的設(shè)計方法包括設(shè)計概念、網(wǎng)表的建立、設(shè)計、布線以及存儲器模塊的驗證，該方法可確保存儲器模塊在嵌入SoC時能有效地工作。
  • 關(guān)鍵字： 嵌入式存儲器  策略  設(shè)計方法    
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嵌入式存儲器介紹

　　嵌入式存儲器是在嵌入式微處理器片上集成的存儲器，用來做代碼或其他需要長久數(shù)據(jù)的存儲。嵌入式存儲器采用的是類似計算機的設(shè)計方法，差異主要體現(xiàn)在體積、功耗、價格和嵌入式處理器的存儲器大小及可擴展性等?！　?1)易失性　　易失性是區(qū)分存儲器種類的重要外部特性之一。易失性是指電源斷開后，存儲器的內(nèi)容是否丟失，如果某種存儲器在斷電后，仍能保持其中的內(nèi)容，則稱為非易失性存儲器。否則，就叫易失性存儲器。對于 [ 查看詳細 ]

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