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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 尼得科精密檢測(cè)

尼得科精密檢測(cè)科技參展PCIM Expo & Conference 2025

  • 尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社（以下簡稱“本公司”）將參展2025年5月6日（星期二）～５月８日（星期四）在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。AC/DC Capacitance testerProbe CardNATS-1000在本次展會(huì)上，電力電子行業(yè)將匯聚一堂，旨在跨越國界共同探索最新的研發(fā)趨勢(shì)，整個(gè)行業(yè)共同分享創(chuàng)意，提供解決方案。本公司在本次展會(huì)上將展示從芯片（Chip）級(jí)到系統(tǒng)級(jí)面向功率器件的先端檢測(cè)系統(tǒng)。此外，還將現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際演示有助于縮短研發(fā)周期的H
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尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社參展TPCA Show TAIPEI 2024

  • 尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社將參展于2024年10月23日（周三）至10月25日（周五）在臺(tái)北南港展覽中心舉辦的、集聚了各家電子電路制造企業(yè)的國際展會(huì) “TPCA Show TAIPEI 2024”。本次展會(huì)以“Innovative AI in PCB”為主題，聚焦AI趨勢(shì)，來自歐洲、美國、亞洲等超過610家企業(yè)匯聚一堂，設(shè)有超過1,600個(gè)展位。尼得科精密檢測(cè)科技將介紹新推出的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)、電氣檢測(cè)技術(shù)和探傷技術(shù)，主要適用于以AI半導(dǎo)體相關(guān)產(chǎn)品為核心的呈微細(xì)化和安裝復(fù)雜化趨勢(shì)的高端電路板。此外，還將在展會(huì)
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尼得科精密檢測(cè)介紹

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