多層陶瓷電容 文章 最新資訊
多層陶瓷電容的失效模式與失效機理
- 多層陶瓷電容(MLCC,Multi-Layer Ceramic Capacitor)是一種廣泛使用的電子元件,特別是在高頻和高溫環(huán)境中。它們的失效模式與失效機理可以分為以下幾種:失效模式短路失效:在電壓過高、溫度過高或機械應力下,電容內部的陶瓷層可能會發(fā)生破裂,從而導致短路。開路失效:陶瓷材料的裂紋或剝離可能導致電容失效,特別是在溫度循環(huán)或濕度環(huán)境下,可能會導致絕緣層失效,形成開路。電容值漂移:由于外部環(huán)境(如溫度、濕度、施加電壓等)變化,電容的電容量可能會發(fā)生明顯漂移,影響電路性能。溫度過升:過大的渦流
- 關鍵字: 多層陶瓷電容 電容 失效
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多層陶瓷電容介紹
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