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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 兼容性.可靠性

兼容性.可靠性 文章 最新資訊

無線抄表系統(tǒng)可靠性設(shè)計

  •  傳統(tǒng)的手工抄表費時、費力,準(zhǔn)確性和及時性得不到可靠的保障,這導(dǎo)致了相關(guān)營銷和企業(yè)管理類軟件不能獲得足 ...
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平行縫焊用蓋板可靠性研究

  • 1 引言  目前平行縫焊工藝在有氣密性要求的各種電子封裝中大量使用。由于密封過程中封裝體的溫升較低、 ...
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電子可靠性技術(shù):最壞情況分析方法(二)

  • 最壞情況數(shù)據(jù)庫提供了一種統(tǒng)一的參考源,以保證WCCA在任何項目都采用相同的數(shù)據(jù)源。顯然,由不同的設(shè)計工程師開 ...
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電子可靠性技術(shù):最壞情況分析方法(一)

  • 最壞情況分析方法將傳統(tǒng)電子可靠性和電路仿真分析方法有機(jī)結(jié)合,產(chǎn)生一種全新的可靠性技術(shù)。與傳統(tǒng)的可靠性技 ...
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可靠性失效分析常見思路(二)

  • 2.3 失效樹分析法  失效樹分析法是一種邏輯分析方法。邏輯分析法包括事件樹分析法(簡稱ETA)、管理失誤 ...
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可靠性失效分析常見思路(一)

  • 失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進(jìn)措施要切實可行?! ?...
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可靠性試驗與驗證術(shù)語

  • 1 篩選 screening  一種通過檢驗剔除不合格或有可能早期失效產(chǎn)品的方法。檢驗包括在規(guī)定環(huán)境條件下的目 ...
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電子組件的電熱建模與可靠性預(yù)測(二)

  • 3. 降低維數(shù)  REBECA-3D在建模方面的第一個優(yōu)勢是降低了維數(shù):三維問題被降階為一組二維問題,只需進(jìn)行表面 ...
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電子組件的電熱建模與可靠性預(yù)測(一)

  • 電子技術(shù)的發(fā)展使得集成度越來越高。如果1960年電路中只有一個晶體管的話,那么現(xiàn)在每個集成電路硅片中至少有 ...
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集成電路可靠性試驗―鹽霧技術(shù)研究

  • 1 前言  鹽霧試驗是集成電路可靠性試驗之一,它可以用來檢驗產(chǎn)品的抗腐蝕環(huán)境能力的強(qiáng)弱。而鹽霧試驗所需 ...
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LED驅(qū)動器的可靠性和電磁兼容性測試方案(三)

  • 測試步驟:  靜電放電測試時要求一次至少使用三個樣本,每個樣本規(guī)定的靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測試并記 ...
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LED驅(qū)動器的可靠性和電磁兼容性測試方案(二)

  • 六 兼容性測試的經(jīng)濟(jì)效應(yīng)  兼容性測試的初期成本很高,需要大量昂貴的設(shè)備來構(gòu)建測試環(huán)境,即便是外發(fā)委托 ...
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LED驅(qū)動器的可靠性和電磁兼容性測試方案(一)

  • 一  引言  隨著人類科技的不斷發(fā)展,我們星球的夜晚變得越來越明亮,越來越絢爛,在這些變化的背后,是不斷發(fā)展 ...
  • 關(guān)鍵字: LED驅(qū)動器  可靠性  電磁兼容性  測試方案  

硬件可靠性測試方法詳解

  • 從硬件角度出發(fā),可靠性測試分為兩類:以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、氣候類環(huán)...
  • 關(guān)鍵字: 熱測試  可靠性  電磁兼容  

分析怎樣提高LED照明的可靠性

  • 隨著藍(lán)光和白光發(fā)光二極管(LED)在1990年大舉邁向?qū)嵱没A段后,無論是利用LED所進(jìn)行的全彩顯示,或是在近年來社會 ...
  • 關(guān)鍵字: LED照明  可靠性  
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兼容性.可靠性介紹

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