3 理論分析與仿真

　　標簽天線貼于介質(zhì)表面時等效為PIFA結(jié)構(gòu)，所以該標簽天線也滿足λ/4諧振條件，其諧振頻率fr主要與貼片的長度l和寬度w有關(guān)。它們之間的關(guān)系可近似表示為：fr=c/[4(l+w)]，其中c表示光速。

　　3.1 天線的阻抗分析

　　常用標簽的芯片阻抗通常不是標準的50 Ω，芯片阻抗一般呈容性，為實現(xiàn)芯片與天線的阻抗匹配，通過射頻仿真軟件HFSS對天線進行了優(yōu)化。設(shè)計中采用的標簽芯片阻抗為24-j195 Ω，所以需要匹配的天線的目標阻抗應為24+j195 Ω。天線的阻抗匹配可以通過調(diào)整天線的開槽長度來實現(xiàn)，如圖4所示為開槽長度w1對天線阻抗的影響。

　　通過對天線阻抗特性進行參數(shù)掃描分析可知，w1的變化對天線的阻抗影響較大，當開槽長度w1<34 mm時，阻抗變化比較平緩，整個天線呈感性;當開槽長度繼續(xù)增加時，天線的實部阻抗會急劇增加，天線表現(xiàn)為容性。通過仿真分析發(fā)現(xiàn)，在開槽長度 w1=31mm時，阻抗為11+j19 4Ω，此時與標簽芯片的阻抗?jié)M足共軛匹配。

　　3.2 金屬面大小對天線的影響

　　由于電子標簽貼附在有限的金屬接地面上，在研究天線的電特性參數(shù)時還要考慮接地面的大小對天線實際增益的影響，表1列出了電子標簽分別位于金屬表面面積為 45 mm×45 mm，100 mm×100 mm，200 mm×200 mm，400 mm×400 mm天線的增益變化情況。

　　表1中數(shù)據(jù)顯示標簽在45 mm×45 mm的金屬表面工作(相當于標簽天線單獨工作)時，天線增益較低，只有0.27 dBi。隨著金屬表面面積的增加，天線的增益也會有所增強，但天線的增益也并不是無限增大的。測試中發(fā)現(xiàn)，在金屬表面面積增加到一定大小時，天線的輻射方向會發(fā)生畸變，使得垂直于輻射面的輻射場減弱，此時天線的增益會有所下降。

　　3.3 介質(zhì)厚度對天線帶寬的影響

　　標簽天線的帶寬也是衡量天線性能的一個重要指標，頻帶越寬，天線的效率越高。通過調(diào)整介質(zhì)層的高度h可以有效地改善天線的帶寬，當介質(zhì)層的高度增加時，會使天線的帶寬變寬，天線的效率提高，但增加天線的高度會使天線的體積增加，也破壞了天線的低剖面特性，綜合以上結(jié)論在設(shè)計中取h=5 mm。通過仿真分析，在介質(zhì)高度為h=5 mm時，天線的反射系數(shù)在-10 dB以下的帶寬為30 MHz(910～940 MHz)，該天線具有良好的頻帶特性。

　　3.4 介質(zhì)材料對天線的影響

　　設(shè)計中分析了兩種常用介質(zhì)對天線增益的影響，如圖5所示為電子標簽貼在FR-4(εr=4.4，h=5 mm)上的方向圖，金屬反射面的大小為400 mm×400 mm，此時天線的增益為2.27 dBi。在垂直天線輻射面的方向，增益最大，圖6為標簽貼在泡沫介質(zhì)(εr=1.1，h=5 mm)上的方向圖，天線的最大增益為3.92 dBi，但天線的最大增益方向為偏離垂直天線輻射面45°的方向。