3仿真與測(cè)試結(jié)果

基于前期的設(shè)計(jì)與仿真優(yōu)化結(jié)果，加工了天線(xiàn)實(shí)物，進(jìn)行了電壓駐波比、增益以及方向圖的測(cè)試。圖6為天線(xiàn)實(shí)物照片；圖7為電壓駐波比的仿真與測(cè)試對(duì)比曲線(xiàn)；圖8為工作頻帶內(nèi)天線(xiàn)增益的仿真與測(cè)試對(duì)比曲線(xiàn)；圖9為中心頻率主平面方向圖的仿真與測(cè)試對(duì)比曲線(xiàn)。

（a）插入損耗仿真結(jié)果

（b）回波損耗仿真結(jié)果

圖5寬帶同軸線(xiàn)-帶狀線(xiàn)轉(zhuǎn)換器仿真結(jié)果

圖6天線(xiàn)實(shí)物

圖7電壓駐波比的仿真與測(cè)試對(duì)比曲線(xiàn)

圖8增益的仿真與測(cè)試對(duì)比曲線(xiàn)

（a）E面

（b）H面

圖9中心頻率主平面方向圖仿真與測(cè)試對(duì)比曲線(xiàn)

通過(guò)分析仿真與測(cè)試結(jié)果可知：天線(xiàn)的阻抗帶寬可達(dá)18%，仿真與測(cè)試曲線(xiàn)吻合良好。在工作頻段內(nèi)，測(cè)試增益大于22dBi，副瓣電平優(yōu)于-18dB，較仿真結(jié)果略差，但曲線(xiàn)整體趨勢(shì)相同。這是由于天線(xiàn)在建模與仿真過(guò)程中，邊界條件設(shè)置過(guò)于理想，而實(shí)際的天線(xiàn)加工精度、平整度、介質(zhì)的均勻性以及天線(xiàn)邊緣繞射效應(yīng)等影響沒(méi)有考慮進(jìn)去造成的。

4結(jié)論

本文設(shè)計(jì)了一種X波段寬帶微帶陣列天線(xiàn)，并給出了基本設(shè)計(jì)流程。通過(guò)對(duì)天線(xiàn)單元、陣列和饋電轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)，使天線(xiàn)具有寬帶和較低副瓣的特點(diǎn)。仿真與測(cè)試結(jié)果吻合好，天線(xiàn)的阻抗帶寬可達(dá)18%，工作頻帶內(nèi)增益大于22dBi，副瓣電平優(yōu)于-18dB。該天線(xiàn)在高性能寬帶無(wú)線(xiàn)系統(tǒng)當(dāng)中有較好的應(yīng)用前景。