通用微處理器等效老化試驗方法分析與研究 作者： 時間：2008-11-26 來源：網絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 結論 通過對通用微處理器等效老化試驗方法的研究，可以得出如下結論：1）等效老化試驗是評估和比較不同工藝、不同設計的功能全兼容集成電路質量和可靠性水平的重要手段；2）“歸一化老化電流”α是能夠表征等效老化應力強度的特征參數；3）通用CPU 可以采用本文給出的等效老化試驗方案實現質量和可靠性水平的有效評估和比較。 上一頁 1 2 3 4 下一頁
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