對電路內(nèi)方法的討論

　　FPGA 內(nèi)驗證方法的優(yōu)劣與模擬正好相反。首先， 顯然FPGA 很快。人們經(jīng)?？梢砸匀龠\行設(shè)計。不過，在某些情況下，這樣做就意味著時序收斂問題會較多，超乎設(shè)計早期預(yù)期的程度。另外，與模擬不同，將多個模塊綜合到設(shè)計中時，FPGA 并不會降速。這樣就可以測試整個設(shè)計，而非單個塊，并且可以以大量的實際數(shù)據(jù)集來運行測試，而不是采用精心編制的測試用例。

　　由于FPGA速度較快，而且它的I/O部件就是實際應(yīng)用所需要的I/O部件，所以也可以采用系統(tǒng)中測試設(shè)計：可以在裝入目標(biāo)系統(tǒng)的FPGA開發(fā)板上測試，或者，如果目標(biāo)PCB（印刷電路板）可以用的話，就在目標(biāo)PCB上測試。這樣的測試可以消除測試用例是否能夠如實反映設(shè)計工作環(huán)境的疑慮。另外，在實際使用的電路板上測試設(shè)計可以暴露出I/O方面的問題——例如電氣問題、信號完整性問題，或是在高速串行協(xié)議下不兼容問題。這些問題用其他方法幾乎無法檢測，而系統(tǒng)內(nèi)測試則會形成一個軟件測試平臺，帶來額外的好處。

　　這些優(yōu)點都是系統(tǒng)級驗證方面的。但Altera公司的Simpson指出：在芯片內(nèi)測試塊也有一些有用的優(yōu)點?！耙坏⒛硞€塊裝入FPGA，就可以使用嵌入式處理器核（如Nios）來輔助調(diào)試過程，” Simpson說。“例如，處理器核可以使數(shù)據(jù)進出芯片，可以控制測試時序。這樣，在塊周邊電路還沒做好的時候就可以單獨測試某個塊?！?

　　“在我們的自有IP（知識產(chǎn)權(quán)）開發(fā)部門，我們編寫了在Nios核上運行的事務(wù)處理器，以此來生成偽隨機測試，” Simpson 接著說?！皳?jù)我所知，這樣的做法在用戶中還不普遍，但它非常有價值?！?

　　既然FPGA有這么多優(yōu)點，您可能會覺得疑惑：直接將編好的核裝入FPGA、為它編寫一個試件（test fixture），然后開始測試 ，這樣做會有什么問題呢？這個問題的答案在于FPGA的一些缺點。