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以CPL天線為W-Fi裝置實現(xiàn)無線耦合測試

作者: 時間:2016-12-06 來源:網(wǎng)絡 收藏

刷電路板材可以有很高的輻射效率。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/201612/326810.htm

  因此,當產(chǎn)品中采用了DockOn的CPL天線設計,就可以在生產(chǎn)過程中采用OTA/耦合測試技術,以優(yōu)化的測試設置協(xié)助制造商提升產(chǎn)量。


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關鍵詞: CPL天線W-Fi裝

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